[发明专利]气体分析装置有效
| 申请号： | 201811250399.3 | 申请日： | 2018-10-25 |
| 公开（公告）号： | CN109975240B | 公开（公告）日： | 2023-10-10 |
| 发明（设计）人： | 谷口裕;小泉和裕;山内芳准 | 申请（专利权）人： | 富士电机株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/39 | 分类号： | G01N21/39;G01N21/01 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 张鑫;俞丹 |
| 地址： | 日本神*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种气体分析装置，能够降低干涉噪声。该气体分析装置分析待测气体中包含的成分，具备：向待测气体照射激光的发光部；接收通过待测气体后的激光的光接收部；使配置在激光通过的光路上的至少一个光学元件移动从而改变激光的光路长度的驱动部；以及基于光学元件的位置相差激光波长的n/2(n为整数)的2个状态下由光接收部检测出的各个信号，计算待测气体的浓度的计算部。 | ||
| 搜索关键词： | 气体 分析 装置 | ||
【主权项】：
1.一种气体分析装置，对待测气体中包含的成分进行分析，该气体分析装置的特征在于，包括：发光部，该发光部向所述待测气体照射激光；光接收部，该光接收部接收通过所述待测气体后的所述激光；驱动部，该驱动部使配置在供所述激光通过的光路上的至少一个光学元件移动，从而改变所述激光的光路长度；以及计算部，该计算部基于在所述光学元件的位置相差所述激光的波长的n/2倍的2个状态下由所述光接收部检测出的各个信号，来计算所述待测气体的浓度，其中，n为整数。
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