[发明专利]索勒狭缝、X射线衍射装置以及方法有效
申请号: | 201811238458.5 | 申请日: | 2018-10-23 |
公开(公告)号: | CN109709118B | 公开(公告)日: | 2022-04-26 |
发明(设计)人: | 拉迪斯拉洛·皮娜;阿道夫·茵内曼;表和彦;小林信太郎 | 申请(专利权)人: | 株式会社理学 |
主分类号: | G01N23/207 | 分类号: | G01N23/207;G01N23/20008 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 王晖 |
地址: | 日本国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明提供一种索勒狭缝、X射线衍射装置以及方法,即便在基于GIXD的测定中X射线照射区域在试料表面上展宽,检测器上的衍射像在面内方向也不会展宽,能够以短的测定时间且高的分辨率来进行测定。索勒狭缝(100)具备多个金属制的薄板(110),所述多个金属制的薄板(110)各自相对于底面垂直,相互隔开规定的角度间隔被排列为拱形,使得从特定的焦点向放射方向通过X射线,该索勒狭缝(100)被设置于以掠入射X射线衍射用的角度被照射至试料并在试料面上被衍射的X射线以测角器圆的中心为特定的焦点来通过的位置而被使用。 | ||
搜索关键词: | 狭缝 射线 衍射 装置 以及 方法 | ||
【主权项】:
1.一种索勒狭缝,其特征在于,具备:多个薄板,各自相对于底面垂直,并且相互隔开规定的角度间隔而排列为拱形,以使得从特定的焦点向放射方向通过X射线,所述索勒狭缝被设置于以掠入射X射线衍射用的角度被照射至试料并在试料面上被衍射的X射线将测角器圆的中心作为所述特定的焦点来通过的位置而被使用。
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