[发明专利]一种半导体存储产品高低温老化测试方法在审
| 申请号： | 201811236575.8 | 申请日： | 2018-10-23 |
| 公开（公告）号： | CN109164329A | 公开（公告）日： | 2019-01-08 |
| 发明（设计）人： | 孟涛成;李庭育;庄健民;王宇 | 申请（专利权）人： | 江苏华存电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R31/26 |
| 代理公司： | 苏州广正知识产权代理有限公司 32234 | 代理人： | 张汉钦 |
| 地址： | 226300 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提供一种半导体存储产品高低温老化测试方法，测试方法包括：将环测设备、若干台测试机、计时器、预警器合并组装在一台老化测试机内，用服务器通过控制软件和局域网通讯对环测设备、测试机、计时器和预警器做控制：通过编辑控制指令和局域网通讯，对环测设备、测试机发出指令指令，直至此测试项目完成，并回报后，服务器再发出下一个指令，并进行下一个项目的测试；通过对测试数据做逻辑判断，自动判断结果是PASS或是NG。本发明测试过程不仅达到了测试的要求，而且节省了研发测试时间，整个测试时间易于合理安排，无需人工值守测试，提高了开发人员的工作效率，减少了人力的投入，且减少了人工判断测试结果带来的误差。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 测试机 半导体存储产品 计时器 局域网通讯 老化测试 高低温 预警器 服务器 指令 编辑控制指令 老化测试机 测试过程 测试数据 测试项目 发出指令 工作效率 控制软件 逻辑判断 人工判断 自动判断 研发 组装 合并 回报 开发 | ||
【主权项】：
1.一种半导体存储产品高低温老化测试方法，其特征在于，所述测试方法包括：步骤一：将环测设备、若干台测试机、计时器、预警器合并组装在一台老化测试机内，用服务器通过控制软件和局域网通讯对环测设备、测试机、计时器和预警器做控制；步骤二：通过编辑控制指令和局域网通讯，对环测设备进行定时的升温、降温、恒温以及湿度控制；步骤三：通过编辑控制指令和局域网通讯，对测试机在不同的环境温度下发出指令，使存储产品做读或写的指令，直至此测试项目完成，并回报后，服务器再发出下一个指令，并进行下一个项目的测试；步骤四：通过编辑产出报告格式，自动回填各测试项目数据，通过对测试数据做逻辑判断，自动判断结果是PASS或是NG。
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