[发明专利]一种半导体存储产品高低温老化测试方法在审
| 申请号： | 201811236575.8 | 申请日： | 2018-10-23 |
| 公开（公告）号： | CN109164329A | 公开（公告）日： | 2019-01-08 |
| 发明（设计）人： | 孟涛成;李庭育;庄健民;王宇 | 申请（专利权）人： | 江苏华存电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R31/26 |
| 代理公司： | 苏州广正知识产权代理有限公司 32234 | 代理人： | 张汉钦 |
| 地址： | 226300 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 测试 测试机 半导体存储产品 计时器 局域网通讯 老化测试 高低温 预警器 服务器 指令 编辑控制指令 老化测试机 测试过程 测试数据 测试项目 发出指令 工作效率 控制软件 逻辑判断 人工判断 自动判断 研发 组装 合并 回报 开发 | ||
1.一种半导体存储产品高低温老化测试方法，其特征在于，所述测试方法包括：
步骤一：将环测设备、若干台测试机、计时器、预警器合并组装在一台老化测试机内，用服务器通过控制软件和局域网通讯对环测设备、测试机、计时器和预警器做控制；
步骤二：通过编辑控制指令和局域网通讯，对环测设备进行定时的升温、降温、恒温以及湿度控制；
步骤三：通过编辑控制指令和局域网通讯，对测试机在不同的环境温度下发出指令，使存储产品做读或写的指令，直至此测试项目完成，并回报后，服务器再发出下一个指令，并进行下一个项目的测试；
步骤四：通过编辑产出报告格式，自动回填各测试项目数据，通过对测试数据做逻辑判断，自动判断结果是PASS或是NG。
2.根据权利要求1所述的半导体存储产品高低温老化测试方法，其特征在于：增加断电保护机制，测试数据定时自动保存，若出现异常断电，测试结果会保存到断电前的一个项目结束，设备在再次通电后，服务器会发出指令，从上次断电未完成事项开始测试，并继续完成未测试的项目。
3.根据权利要求1所述的半导体存储产品高低温老化测试方法，其特征在于：所述测试机的测试项目顺序为：高温写-低温读-低温写-高温读。
4.根据权利要求1所述的半导体存储产品高低温老化测试方法，其特征在于：所述高低温设备、测试机、环测设备、计时器、预警器串联设置。
5.根据权利要求1所述的半导体存储产品高低温老化测试方法，其特征在于：所述环测设备包括温度传感器以及湿度传感器。
6.根据权利要求1所述的半导体存储产品高低温老化测试方法，其特征在于：设定高低温设备每个温度的运行时间，以实现高低温设备的自动化升温和降温。
7.根据权利要求1所述的半导体存储产品高低温老化测试方法，其特征在于：设定数据采集的记录时间，实现自动实时记录各项测试结果。
8.根据权利要求1所述的半导体存储产品高低温老化测试方法，其特征在于：所述测试报告为一自动生成的表单及图形文件至少其中之一。
9.根据权利要求1所述的半导体存储产品高低温老化测试方法，其特征在于：还包括一显示模块，用于显示产出的测试报告。
10.根据权利要求1所述的半导体存储产品高低温老化测试方法，其特征在于：所述高温的温度范围是35~85℃，低温环境的温度是-30℃~0℃，所述湿度是10%RH~95%RH。
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