[发明专利]一种半导体存储产品高低温老化测试方法

说明书

本发明提供一种半导体存储产品高低温老化测试方法，测试方法包括：将环测设备、若干台测试机、计时器、预警器合并组装在一台老化测试机内，用服务器通过控制软件和局域网通讯对环测设备、测试机、计时器和预警器做控制：通过编辑控制指令和局域网通讯，对环测设备、测试机发出指令指令，直至此测试项目完成，并回报后，服务器再发出下一个指令，并进行下一个项目的测试；通过对测试数据做逻辑判断，自动判断结果是PASS或是NG。本发明测试过程不仅达到了测试的要求，而且节省了研发测试时间，整个测试时间易于合理安排，无需人工值守测试，提高了开发人员的工作效率，减少了人力的投入，且减少了人工判断测试结果带来的误差。

技术领域

本发明涉及半导体存储类产品稳定性测试方法，具体涉及一种半导体存储产品高低温老化测试方法。

背景技术

目前电子产品的可靠性温度测试包括高低温交变湿热测试，已经成为可靠性测试工作的重中之重，对于所有半导体存储类产品，需要对存储产品在高温或低温的环境下做严谨的读写测试（简称老化测试），模拟在高温或低温的环境下，通过辅助控制软件发指令，向存储类产品做读写和比对测试，确认存储产品在严苛的外部环境是否可以正常运作。

目前，存储产品模拟工作状况(读写测试)在高温或低温环境测试时，以现有设备可测试相应的项目，但需要将多台测试机架设在环测设备旁边配合才能完成存储类产品在不同的高温&低温的环境下做读写测试。并需要多次设置做高温&低温切换才能完成所有的测试项目。而且，产出的测试数据需要送给专业的工程师才能知道测试结果。这样既拉长了产品研发周期，也增加了人力投入、设备投入和场地投入的成本，且工程师判断的过程会有经验的干扰，降低了测试结果的可靠性以及工作效率。

发明内容

为了解决上述的以及其他潜在的技术问题，本发明的实施例提供了一种半导体存储产品高低温老化测试方法，所述测试方法包括：

步骤一：将环测设备、若干台测试机、计时器、预警器合并组装在一台老化测试机内，用服务器通过控制软件和局域网通讯对环测设备、测试机、计时器和预警器做控制；

步骤二：通过编辑控制指令和局域网通讯，对环测设备进行定时的升温、降温、恒温以及湿度控制；

步骤三：通过编辑控制指令和局域网通讯，对测试机在不同的环境温度下发出指令，使存储产品做读或写的指令，直至此测试项目完成，并回报后，服务器再发出下一个指令，并进行下一个项目的测试；

步骤四：通过编辑产出报告格式，自动回填各测试项目数据，通过对测试数据做逻辑判断，自动判断结果是PASS或是NG。

于本发明的一实施例中，增加断电保护机制，测试数据定时自动保存，若出现异常断电，测试结果会保存到断电前的一个项目结束，设备在再次通电后，服务器会发出指令，从上次断电未完成事项开始测试，并继续完成未测试的项目。

于本发明的一实施例中，所述测试机的测试项目顺序为：高温写-低温读-低温写-高温读。

于本发明的一实施例中，所述高低温设备、测试机、环测设备、计时器、预警器串联设置。

于本发明的一实施例中，所述环测设备包括温度传感器以及湿度传感器。

于本发明的一实施例中，设定高低温设备每个温度的运行时间，以实现高低温设备的自动化升温和降温。

于本发明的一实施例中，设定数据采集的记录时间，实现自动实时记录各项测试结果。

于本发明的一实施例中，所述测试报告为一自动生成的表单及图形文件至少其中之一。

于本发明的一实施例中，还包括一显示模块，用于显示产出的测试报告。

于本发明的一实施例中，所述高温的温度范围是35~85℃，低温环境的温度是-30℃~0℃，所述湿度是10%RH~95%RH。