[发明专利]一种高低温老化测试机架结构在审
| 申请号： | 201811221808.7 | 申请日： | 2018-10-19 |
| 公开（公告）号： | CN109119128A | 公开（公告）日： | 2019-01-01 |
| 发明（设计）人： | 杜建;邓标华 | 申请（专利权）人： | 武汉精鸿电子技术有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222 | 代理人： | 胡琦旖 |
| 地址： | 430070 湖北省武汉市洪*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明属于高低温老化测试技术领域，公开了一种高低温老化测试机架结构，包括第一温度区、第二温度区、隔离温度区，隔离温度区位于第一温度区和第二温度区之间；第一温度区内设置有第一背板，第一背板用于可插拔地安装若干测试核心板；第二温度区内设置有第二背板，第二背板用于可插拔地安装若干测试板；隔离温度区内设置有直通板，第一背板通过直通板与第二背板连接。本发明解决了现有技术中高低温恶劣环境对测试核心板造成的温度冲击较大，导致测试系统的稳定性较差的问题。本发明达到了保证测试信号质量，提高测试设备安全性和稳定性的技术效果。 | ||
| 搜索关键词： | 温度区 背板 高低温 机架结构 老化测试 核心板 直通板 隔离 老化测试技术 测试 背板连接 测试设备 测试系统 测试信号 恶劣环境 技术效果 温度冲击 测试板 保证 | ||
【主权项】：
1.一种高低温老化测试机架结构，其特征在于，包括第一温度区、第二温度区、隔离温度区，所述隔离温度区位于所述第一温度区和所述第二温度区之间；所述第一温度区内设置有第一背板，所述第一背板用于可插拔地安装若干测试核心板；所述第二温度区内设置有第二背板，所述第二背板用于可插拔地安装若干测试板；所述隔离温度区内设置有直通板，所述第一背板通过所述直通板与所述第二背板连接。
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