[发明专利]红外光学材料均匀性测试的试样面形误差的控制方法有效
| 申请号： | 201811219047.1 | 申请日： | 2018-10-19 |
| 公开（公告）号： | CN109406107B | 公开（公告）日： | 2020-02-14 |
| 发明（设计）人： | 麦绿波 | 申请（专利权）人： | 中国兵器工业标准化研究所 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 11011 中国兵器工业集团公司专利中心 | 代理人： | 王雪芬 |
| 地址： | 100089 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及红外光学材料均匀性测试的试样面形误差的控制方法，涉及红外光学材料均匀性测试技术领域。本发明通过建立红外光学材料均匀性测试试样面形误差与测试原理和测试精度要求的计算关系，将红外测试波段的试样面形误差的波前波差影响转换为可见光条件下加工和检验的试样面形误差关系，并通过建立相关的算法公式进行数值计算，创建了红外光学材料短波、中波、长波波段均匀性测试精度保证的试样面形误差控制的数值表格，并进一步计算给出了红外光学材料短波、中波、长波波段均匀性测试精度保证的试样面形误差控制的用例表。本发明可为红外短波波段、中波波段和长波波段的光学材料均匀性测试精度保证提供试样面形误差控制的具体数值。 | ||
| 搜索关键词： | 面形误差 均匀性测试 红外光学材料 长波波段 精度保证 短波 测试精度要求 可见光条件 测试原理 短波波段 光学材料 红外测试 数值表格 数值计算 算法公式 中波波段 波段 转换 创建 检验 加工 | ||
【主权项】：
1.红外光学材料均匀性测试的试样面形误差的控制方法，其特征在于，包括以下步骤：/n步骤S1、设试样面形误差或表面非平整性为S
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