[发明专利]显示面板测量方法及设备在审
| 申请号： | 201811218920.5 | 申请日： | 2018-10-18 |
| 公开（公告）号： | CN109164610A | 公开（公告）日： | 2019-01-08 |
| 发明（设计）人： | 刘忠念 | 申请（专利权）人： | 惠科股份有限公司;重庆惠科金渝光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13 |
| 代理公司： | 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 | 代理人： | 胡海国 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市宝安区石岩街道水田村民*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开一种显示面板测量方法及显示面板测量设备，该显示面板测量方法包括：选取液晶面板预设位置的两个测试点，分别为第一测试点及第二测试点；测试第一测试点在第一偏振片和第二偏振片处于不同状态下液晶层的穿透率；测试第二测试点在第一偏振片和第二偏振片处于不同状态下液晶层的穿透率；根据第一测试点在第一偏振片和第二偏振片处于不同状态下液晶层的穿透率，及第二测试点在第一偏振片和第二偏振片处于不同状态下液晶层的穿透率确定液晶层效率。本发明技术方案通过对两个测试点获取多组测试参数，降低参数变异的影响，提高了液晶效率测试的精度。 | ||
| 搜索关键词： | 测试点 偏振片 液晶层 显示面板 穿透率 测试 测量 测量方法及设备 参数变异 测量设备 测试参数 液晶面板 液晶效率 预设位置 | ||
【主权项】：
1.一种显示面板测量方法，其特征在于，所述显示面板测量方法包括：选取液晶面板预设位置的两个测试点，分别为第一测试点及第二测试点；测试所述第一测试点在第一偏振片和第二偏振片处于不同状态下液晶层的穿透率；测试所述第二测试点在第一偏振片和第二偏振片处于不同状态下液晶层的穿透率；根据所述第一测试点在所述第一偏振片和所述第二偏振片处于不同状态下液晶层的穿透率，及所述第二测试点在所述第一偏振片和所述第二偏振片处于不同状态下液晶层的穿透率确定液晶层效率。
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