[发明专利]集成电路修复方法及装置、存储介质、电子设备有效
| 申请号： | 201811155355.2 | 申请日： | 2018-09-30 |
| 公开（公告）号： | CN110970083B | 公开（公告）日： | 2022-03-29 |
| 发明（设计）人： | 蓝尹明 | 申请（专利权）人： | 长鑫存储技术有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/44 | 分类号： | G11C29/44 |
| 代理公司： | 北京律智知识产权代理有限公司 11438 | 代理人： | 袁礼君;阚梓瑄 |
| 地址： | 230000 安徽省合肥市*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本公开涉及电路修复技术领域，尤其涉及一种集成电路修复方法及装置、存储介质、电子设备。该方法包括：根据各所述集成电路的故障位置，确定各所述集成电路中各所述故障位置对应的熔断丝；根据各所述集成电路中的各所述故障位置对应的熔断丝，设置所述多个集成电路中各相同位置处的熔断丝对应的控制信号，其中，各所述相同位置处的熔断丝对应的控制信号均包括各所述位址线的控制信号；向所述多个集成电路的所述N个位址线提供熔断信号，并向所述多个集成电路的所述N个位址线依次提供各相同位置处的熔断丝对应的控制信号，以对各所述集成电路中的各故障位置进行修复。本公开减少了整体的修复时间，降低了修复成本，提高了修复效率。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 修复 方法 装置 存储 介质 电子设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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