[发明专利]微波毫米波三维近场数据采集与成像系统在审
| 申请号： | 201811147092.0 | 申请日： | 2018-09-29 |
| 公开（公告）号： | CN109085585A | 公开（公告）日： | 2018-12-25 |
| 发明（设计）人： | 叶龙芳;丰豪;柳清伙 | 申请（专利权）人： | 厦门大学 |
| 主分类号： | G01S13/89 | 分类号： | G01S13/89 |
| 代理公司： | 厦门南强之路专利事务所(普通合伙) 35200 | 代理人： | 马应森 |
| 地址： | 361005 *** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 微波毫米波三维近场数据采集与成像系统，属于电磁场测量技术领域。设有控制电脑、测试探针、三轴运动控制器、线性平移台、矢量网络分析仪、金属支架和样品台；所述控制电脑分别与三轴运动控制器和矢量网络分析仪相连，三轴运动控制器与线性平移台相连；样品台安装固定在线性平移台上，金属支架设在线性平移台上方；测试探针固定在金属支架上并且与被测样品的一端口一起连接到矢量网络分析仪上。利用高性能长行程线性移动平台及同轴测试探针，可以实现对被测样品周围指定区域不同频率下的电场或者磁场进行逐点扫描，获取相关幅值与相位信息数据，并能通过电脑对场分布数据进行分析处理及成像显示。 | ||
| 搜索关键词： | 三轴运动控制器 矢量网络分析仪 测试探针 金属支架 微波毫米波 线性平移台 被测样品 成像系统 控制电脑 数据采集 线性平移 样品台 近场 三维 相位信息数据 电磁场测量 电场 安装固定 成像显示 分析处理 线性移动 逐点扫描 场分布 长行程 同轴 磁场 电脑 | ||
【主权项】：
1.微波毫米波三维近场数据采集与成像系统，其特征在于设有控制电脑、测试探针、三轴运动控制器、线性平移台、矢量网络分析仪、金属支架和样品台；所述控制电脑分别与三轴运动控制器和矢量网络分析仪相连，三轴运动控制器与线性平移台相连；样品台安装固定在线性平移台上，金属支架设在线性平移台上方；测试探针固定在金属支架上并且与被测样品的一端口一起连接到矢量网络分析仪上。
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