[发明专利]一种材料微观组织弯曲压缩性能动态高通量测量装置

摘要

本发明公开一种材料微观组织弯曲压缩性能动态高通量测量装置，属于材料金相分析及力学性能测试领域。本发明所述装置包括底座、拉伸装置、显微测试系统、低温测试系统、高温测试系统、拉伸支架，拉伸装置安装在拉伸支架上，显微测试系统位于试样的正上方；控制计算机通过数据接口与上位机连接；本发明能连续观察材料在各种气氛、温度环境中形变过程中微观组织变化规律，同时获得试样在各种气氛、温度环境中应力‑应变曲线及曲线上各点所对应金相结构，通过观察分析材料微结构形变及断裂机理，对晶内、晶界、栾晶、位错、第二相等力学性能影响因素进行观察研究。

主权项

1.一种材料微观组织弯曲压缩性能动态高通量测量装置，其特征在于：包括电源开关（1）、触摸控制屏（2）、外壳（3）、前观察窗（4）、后观察窗（5）、前盖（7）、滤色片（8）、孔径光栏（9）、显微镜光源（10）、摄像机接口（12）、后导轨（13）、前导轨（14）、计算机数据接口（16）、气氛输入端（17）、气氛输出端（18）、伺服电机（26）、减速器（27）、左支架（28）、前滑杆（29）、滑块（30）、滑块前滑动轴承（31）、压头（32）、压头前滑动轴承（33）、位移传感器（34）、螺杆（36）、滑块后滑动轴承（37）、螺母（38）、支撑杆（39）、后滑杆（40）、压力传感器左支撑架（41）、压力传感器（42）、压力传感器右支撑架（43）、压头后滑动轴承（45）、后支撑座（46）、后绝缘片（47）、前支撑座（50）、前绝缘片（51）、右支架（52）、压缩后电源端（53）、压缩压头（54）、压缩试样（55）、压缩支撑台（56）、压缩前电源端（57）；外壳（3）上安装有电源开关（1）及触摸控制屏（2），外壳（3）上设有前观察窗（4）和后观察窗（5），外壳（3）的内部安装有后导轨（13）和前导轨（14），底座固定在后导轨（13）和前导轨（14）上，前导轨（14）与后导轨（13）使底座左右滑动，显微系统和力学系统均安装在底座上；前盖（7）上设有密封圈（15），前盖（7）固定在底座的末端，关闭前盖（7）后底座及显微系统和力学系统移入外壳（3）内；外壳（3）上设有计算机数据接口（16）、气氛输入端（17）、气氛输出端（18）；显微测试系统位于待测试样的正上方，固定在底座上；前盖（7）外侧安装有摄像机接口（12）、滤色片（8）、孔径光栏（9）、显微镜光源（10），滤色片（8）、孔径光栏（9）、显微镜光源（10）构成金相分析显微分析照明光源系统；底座左端设有减速器（27），减速器（27）输入端连接伺服电机（26），伺服电机（26）带动减速器（27）转动，减速器（27）输出端穿过左支架（28）与螺杆（36）连接，滑块（30）中部固定有贯穿滑块（30）的螺母（38），螺杆（36）与螺母（38）连接；左支架（28）、右支架（52）分别固定在底座的左右两端，前滑杆（29）、后滑杆（40）的两端分别固定在左支架（28）及右支架（52）上，滑块（30）前后两端安装有滑块前滑动轴承（31）和滑块后滑动轴承（37），前滑杆（29）和后滑杆（40）分别穿过滑块前滑动轴承（31）和滑块后滑动轴承（37），使滑块（30）可沿着前滑杆（29）、后滑杆（40）左右滑动；压头（32）前端安装有压头前滑动轴承（33），后端安装有压头后滑动轴承（45），前滑杆（29）和后滑杆（40）分别穿过压头后滑动轴承（45）和压头前滑动轴承（33），使压头（32）可沿着前滑杆（29）及后滑杆（40）左右滑动；滑块（30）右端固定有四根支撑杆（39），支撑杆（39）右端与压力传感器左支撑架（41）连接，压力传感器（42）可拆卸固定在压力传感器左支撑架（41）上，压力传感器（42）另一端固定在压力传感器右支撑架（43）上，压力传感器右支撑架（43）固定于压头（32）上；压头（32）的右端固定设有前支撑座（50）、后支撑座（46），前支撑座（50）右端安装有前绝缘片（51）、后支撑座（46）右端安装有后绝缘片（47），压头（32）与右支架（52）间安装有位移传感器（34）；压缩压头（54）固定于前绝缘片（51）与后绝缘片（47）上，在压缩压头（54）前后端设置压缩前电源端（57）及压缩后电源端（53），压缩支撑台（56）固定于右支架（52）上，压缩支撑台（56）的左端为平面结构；压缩试样（55）安装于压缩压头（54）与压缩支撑台（56）之间，压缩试样（55）上端面制备金相观察区，显微测试系统的物镜（25）聚焦于金相观察。