[发明专利]一种利用机械调谐测量电子束流直径的方法在审

专利信息
申请号: 201811142828.5 申请日: 2018-09-28
公开(公告)号: CN109855509A 公开(公告)日: 2019-06-07
发明(设计)人: 柴彦科;曹永升;穆建中;马正军 申请(专利权)人: 甘肃虹光电子有限责任公司
主分类号: G01B5/08 分类号: G01B5/08
代理公司: 甘肃省知识产权事务中心 62100 代理人: 陈超
地址: 744000 甘*** 国省代码: 甘肃;62
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摘要: 发明公开一种利用机械调谐测试电子束流直径的方法,所用设备包括电子束发射系统、电子束收集系统、真空陶瓷外壳、排气系统、微调系统、电流表,电子束发射系统发射的电子被电子束收集极收集,由电流表、电子束收集极及大地之间构成的回路中有电流流过,电流表显示数字,屏蔽片在移动过程中遮挡电子,被遮挡电子的数量与电流表读数成成线性关系,当电子束全部被屏蔽片遮挡后,电流表读数饱和,不在变化。通过电流表出现读数及电流表读数不在随屏蔽片移动而变化时,刻度盘前后的刻度差就是电子束直径。有益效果:测试过程简便,可重复多次测试;测试精度达到0.02mm,对电真空器件的研究具有重要的意义。
搜索关键词: 电子束 电流表 电流表读数 屏蔽片 遮挡 电子束发射 机械调谐 收集极 束流 电真空器件 测量电子 测试电子 测试过程 多次测试 排气系统 收集系统 所用设备 微调系统 线性关系 移动过程 真空陶瓷 可重复 刻度盘 饱和 测试 发射 移动 研究
【主权项】:
1.一种利用机械调谐测试电子束流直径的方法,其特征是:所用设备包括电子束发射系统(100)、电子束收集系统(200)、真空陶瓷外壳(300)、排气系统(400)、微调系统(600)、电流表(500),所述电子束发射系统(100)、电子束收集系统(200)分别固定在真空陶瓷外壳(300)相对的两端,排气系统(400)、微调系统(600)连接于真空陶瓷外壳(300);所述电子束收集系统(200)有电子束收集极(201)、散热片(202),散热片(202)固定于电子束收集极(201)外表面,电子束收集极(201)前面在真空陶瓷外壳(300)内并且与电子束发射系统(100)的发射枪相对设置,电子束收集极(201)连接电流表(500)的正极,电流表(500)的负极接地;所述排气系统(400)是在真空陶瓷外壳(300)开一个排气孔(401),排气孔(401)接通排气管(402),排气管(402)上端固定有排气管法兰(403),排气管法兰(403)用来连接真空泵的抽气管;所述微调系统(600)包括调谐引出筒(601),弹性管组件(700)和刻度盘(602),微调系统(600)接地,调谐引出筒(601)侧壁与真空陶瓷外壳(300) 气密性连接,弹性管组件(700)包括固定套(701)、弹性管(702)、调谐螺杆(703)、屏蔽片(704)、T型连接杆(705),屏蔽片(704)经过调谐引出筒(601)伸入真空陶瓷外壳(300)内,屏蔽片(704)固定在T型连接杆(705)端头,固定套(701)是一侧有底、一侧敞口的筒形,T型连接杆(705)有凸缘,凸缘上固定连接弹性管(702)的一端,弹性管(702)的另一端固定连接固定套(701)的底面,固定套(701)固定连接调谐引出筒(601)将调谐引出筒(601)一端封闭,调谐螺杆(703)下部穿过固定套(701)的底进入弹性管(702)内部且端面与T型连接杆(705)顶触,刻度盘(602) 包括轴向刻度筒和径向刻度筒两部分,轴向刻度筒与固定套(701)固定在一起,径向刻度筒套接轴向刻度筒,径向刻度筒有内螺纹,径向刻度筒的内螺纹与调谐螺杆(703)的外螺纹相配合;测量时将排气系统(400)与真空抽气机相连通,对真空陶瓷外壳(300) 进行排气,待内部真空度达到1×10‑7Pa以上,将排气系统从真空抽气机上封离,将电流表(500)正极接在电子束收集极(201)上,负极接地,接通电子束发射系统(100)高压源,缓慢旋转径向刻度筒至电流表(500)出现读数,记录刻度盘(602)刻度值,继续缓慢旋转径向刻度筒,观察电流表(500)至电流表指针停止偏转时再次记录刻度盘(602)刻度值,电子束流直径即为前后两次刻度差的绝对值。
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