[发明专利]紫外线受光元件和紫外线受光元件的制造方法在审
申请号: | 201811107540.4 | 申请日: | 2018-09-21 |
公开(公告)号: | CN109560160A | 公开(公告)日: | 2019-04-02 |
发明(设计)人: | 奥田知総;二木俊郎 | 申请(专利权)人: | 艾普凌科有限公司 |
主分类号: | H01L31/102 | 分类号: | H01L31/102;H01L27/144;H01L31/18 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 邓毅;李庆泽 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 紫外线受光元件和紫外线受光元件的制造方法。紫外线受光元件具有:第1光电二极管,设于半导体衬底的第1区域,包含第1导电型的第1阱注入层、设于第1阱注入层内的第2导电型的第1嵌入注入层和设于第1嵌入注入层内的半导体衬底表面处的第1导电型的第1表面注入层,对于紫外线有敏感度;第2光电二极管,设于半导体衬底的第2区域,包含第1导电型的第2阱注入层、设于第2阱注入层内的第2导电型的第2嵌入注入层和设于第2嵌入注入层内的半导体衬底表面处的第1导电型的第2表面注入层,对于紫外线没有敏感度,第2阱注入层的峰值浓度位置比第1阱注入层的峰值浓度位置深与半导体衬底表面到第2表面注入层的峰值浓度位置的深度相等的深度。 | ||
搜索关键词: | 注入层 导电型 紫外线受光元件 半导体衬底表面 峰值浓度位置 嵌入 光电二极管 敏感度 紫外线 衬底 半导体 相等 制造 | ||
【主权项】:
1.一种紫外线受光元件,其特征在于,其具有:第1光电二极管,其配置于半导体衬底的第1区域,包含第1导电型的第1阱注入层、设置于所述第1阱注入层内的第2导电型的第1嵌入注入层、以及设置于所述第1嵌入注入层内的所述半导体衬底表面处的第1导电型的第1表面注入层,对于紫外线具有敏感度;以及第2光电二极管,其配置于所述半导体衬底的第2区域,包含第1导电型的第2阱注入层、设置于所述第2阱注入层内的第2导电型的第2嵌入注入层、以及设置于所述第2嵌入注入层内的所述半导体衬底表面处的第1导电型的第2表面注入层,对于紫外线不具有敏感度,所述第2阱注入层的峰值浓度位置比所述第1阱注入层的峰值浓度位置深与从所述半导体衬底表面到所述第2表面注入层的峰值浓度位置的深度相等的深度。
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