[发明专利]一种芯片测试装置有效
| 申请号： | 201811099670.8 | 申请日： | 2018-09-20 |
| 公开（公告）号： | CN109031102B | 公开（公告）日： | 2021-03-30 |
| 发明（设计）人： | 夏俊生;李寿胜;侯育增;尤广为;李波;李文才 | 申请（专利权）人： | 北方电子研究院安徽有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04 |
| 代理公司： | 安徽省蚌埠博源专利商标事务所(普通合伙) 34113 | 代理人： | 杨晋弘 |
| 地址： | 233030 安徽省*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明提供一种芯片测试装置，其特征在于：它包括基板（1），在基板（1）上设有一组连接槽（2），在基板（1）上还设有接口焊盘（3）；设置转接板（4），在转接板（4）下表面设有与连接槽（2）对应配合的插块（7），在转接板上表面设有芯片定位槽（5），在定位槽（5）内设有一组测试凸块（6）。本发明具有结构简单，制造成本低廉，使用方便，芯片PAD区连接电阻低，检测时不会对芯片造成损伤等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 装置 | ||
【主权项】：
1.一种芯片测试装置，其特征在于：它包括基板（1），在基板（1）上设有一组连接槽（2），在基板（1）上还设有接口焊盘（3）；设置一个与基板对应配合的转接板（4），在转接板（4）下表面设有一组与连接槽（2）对应配合的插块（7），在转接板上表面设有芯片定位槽（5），在定位槽（5）内设有一组测试凸块（6）。
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