[发明专利]一种电子元件检测装置有效

专利信息
申请号: 201811076281.3 申请日: 2018-09-14
公开(公告)号: CN109100595B 公开(公告)日: 2020-06-23
发明(设计)人: 王苗苗;梁硕;李娜;张玉霞;张建琨 申请(专利权)人: 邯郸学院
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R31/40;G01B21/00;G01N21/84
代理公司: 苏州拓云知识产权代理事务所(普通合伙) 32344 代理人: 赵艾亮
地址: 056005 河北*** 国省代码: 河北;13
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摘要: 发明公开了一种电子元件检测装置,本发明可以大大调高电子元件的检测效率,不仅可以实现对电子元件的信号以及电源自动检测,而且,可以将其进行翻面,对电子元件的正反两面进行尺寸以及视觉检测,提高电子元件的检测可靠性,保证电子元件出厂的合格率,本发明能够实现对电子元件的自动有序检测,该装置占用空间小,检测探针可以位置调节,这样,可以根据电子元件的检测端子的位置进行调节检测探针的位置,以便满足多种型号、多种种类电子元件的检测需要。
搜索关键词: 一种 电子元件 检测 装置
【主权项】:
1.一种电子元件检测装置,其特征在于,其包括底座、支撑台、检测圆盘、检测探针组件、尺寸检测器和电子元件表面视觉检测系统,其中,所述支撑台采用所述底座进行支撑设置,所述支撑台的中心采用分度主轴可转动的支撑设置有检测圆盘,所述检测圆盘上设置有同轴分布的两组阶梯孔,每组阶梯孔孔均圆周阵列布设在所述检测圆盘上,且两组阶梯孔的个数相等,所述阶梯孔的底部支撑连接有透明支撑玻璃片,待检测的电子元件放置在阶梯孔内并由所述透明支撑玻璃片支撑,所述支撑台上位于所述检测圆盘的外侧设置有至少一个检测探针组件,所述支撑台上位于所述检测圆盘的两组阶梯孔的下方设置有两组对称布设的尺寸检测器和两组对称布设的电子元件表面视觉检测系统,其中一组尺寸检测器和电子元件表面视觉检测系统对电子元件正面进行检测,另外一组尺寸检测器和电子元件表面视觉检测系统对电子元件反面进行检测,所述支撑台上还设置有位于所述检测圆盘外侧的对电子元件进行翻面处理的翻转机械手,所述翻转机械手采用机械手底座固定在所述支撑台上。
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