[发明专利]一种融合SMT的MCM集成电路封装方法有效

专利信息
申请号: 201811050739.8 申请日: 2018-09-10
公开(公告)号: CN109273375B 公开(公告)日: 2020-04-17
发明(设计)人: 王辉;全庆霄;姜岩峰;符爱风;王嫚 申请(专利权)人: 无锡豪帮高科股份有限公司
主分类号: H01L21/60 分类号: H01L21/60;H01L23/488;H01L21/67;H05K3/34
代理公司: 北京中济纬天专利代理有限公司 11429 代理人: 赵海波;曹键
地址: 214000 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明涉及的一种融合SMT的MCM集成电路封装方法,其特征在于采用一种融合SMT的MCM集成电路封装结构的生产流水线进行作业,在金属引线框架上通过锡膏焊接有源器件,金属引线框架上通过银胶粘贴芯片;一种融合SMT的MCM集成电路封装结构的生产流水线,它从前之后依次包括引线框架上料装置、钢网印刷装置、第一AOI自动光学检测装置、有源器件安装装置、回流焊装置、第二AOI自动光学检测装置、芯片安装装置、第一烘烤装置、键合装置、塑封装置、第二烘烤装置、打标装置、电镀装置、成型切筋装置、外观检测包装装置。本发明的一种融合SMT的MCM集成电路封装方法具有提高生产效率,降低生产成本,保证生产产品质量的优点。
搜索关键词: 一种 融合 smt mcm 集成电路 封装 方法
【主权项】:
1.一种融合SMT的MCM集成电路封装方法,其特征在于采用一种融合SMT的MCM集成电路封装结构的生产流水线进行作业,在金属引线框架上通过锡膏焊接有源器件,金属引线框架上通过银胶粘贴芯片;一种融合SMT的MCM集成电路封装结构的生产流水线从前至后依次包括引线框架上料装置(101)、钢网印刷装置(102)、第一AOI自动光学检测装置(103)、有源器件安装装置(104)、回流焊装置(105)、第二AOI自动光学检测装置(106)、芯片安装装置(107)、第一烘烤装置(108)、键合装置(109)、塑封装置(110)、第二烘烤装置(111)、打标装置(112)、电镀装置(113)、成型切筋装置(114)、外观检测包装装置(115);一种融合SMT的MCM集成电路封装方法的具体步骤如下:步骤一、引线框架上料装置(101)将引线框架上料;步骤二、钢网印刷装置(102)通过钢网在引线框架上进行印刷;步骤三、第一AOI自动光学检测装置(103)对钢网印刷后的金属引线框架进行检测;步骤四、有源器件安装装置(104)在金属引线框架上安装有源器件;步骤五、在回流焊装置(105)内将安装有缘器件的金属引线框架进行回流焊,在此过程中回流焊装置(105)内保持氮气保护,通过氮气保护的回流焊装置,使有源器件与金属框架紧密粘接;步骤六、第二AOI自动光学检测装置(106)对回流焊完成的金属引线框架进行检测;有不合格之处记录至数据库,该处不进行后续芯片安装作业;步骤七、芯片安装装置(107)将芯片在金属引线框架上进行安装,根据芯片的多少,芯片安装装置(107)可以设置有多组或者一组;步骤八、第一烘烤装置(108)将粘贴芯片的金属引线框架进行烘烤;步骤九、键合装置(109)对上述步骤完成的中间品进行键合作业;步骤十、塑封装置(110)对上述步骤完成的中间品进行塑封作业;步骤十一、第二烘烤装置(111)对上述步骤完成的中间品进行烘烤作业;步骤十二、打标装置(112)对上述步骤完成的中间品进行打标作业;步骤十三、电镀装置(113)对上述步骤完成的中间品进行电镀作业;步骤十四、成型切筋装置(114)对上述步骤完成的中间品进行成型切筋作业;步骤十五、外观检测包装装置(115)对上述步骤完成的中间品进行外观检测和包装作业。
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