[发明专利]晶圆键合方法及装置有效
申请号: | 201811038014.7 | 申请日: | 2018-09-06 |
公开(公告)号: | CN109192682B | 公开(公告)日: | 2021-03-09 |
发明(设计)人: | 刘洋 | 申请(专利权)人: | 武汉新芯集成电路制造有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01L21/18 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 屈蘅 |
地址: | 430205 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明提供了一种晶圆键合方法及装置。该方法包括:利用第一晶圆卡盘固定第一晶圆,利用第二晶圆卡盘固定第二晶圆,利用第一施压组件对第一晶圆以朝向第二晶圆的方向施加压力,以及利用第二施压组件对第二晶圆以朝向第一晶圆的方向施加压力,以使第一晶圆的第一贴合部和第二晶圆的第二贴合部相互靠近移动并贴合,使第一晶圆脱离第一晶圆卡盘,使第二晶圆脱离第二晶圆卡盘,第一晶圆和第二晶圆完全贴合并完全键合。本发明中的晶圆键合方法的晶圆键合对准精度较高。 | ||
搜索关键词: | 晶圆键合 方法 装置 | ||
【主权项】:
1.一种晶圆键合方法,其特征在于,包括:提供一晶圆键合装置,所述晶圆键合装置包括第一晶圆卡盘、第二晶圆卡盘、第一施压组件以及第二施压组件,所述第一晶圆卡盘和第二晶圆卡盘相对设置,所述第一施压组件设置在所述第一晶圆卡盘上,所述第二施压组件设置在所述第二晶圆卡盘上,并且所述第一施压组件和所述第二施压组件相对设置;提供第一晶圆和第二晶圆,并利用所述第一晶圆卡盘固定所述第一晶圆,所述第一晶圆中对应所述第一施压组件的部分构成第一贴合部;以及利用所述第二晶圆卡盘固定所述第二晶圆,使得所述第一晶圆和所述第二晶圆相对设置,所述第二晶圆中对应所述第二施压组件的部分构成第二贴合部;利用所述第一施压组件对所述第一晶圆以朝向所述第二晶圆的方向施加压力,以及利用所述第二施压组件对所述第二晶圆以朝向所述第一晶圆的方向施加压力,以使所述第一晶圆的所述第一贴合部和所述第二晶圆的所述第二贴合部相互靠近移动并贴合,并使所述第一晶圆的所述第一贴合部和所述第二晶圆的所述第二贴合部相互键合;以及,使所述第一晶圆脱离所述第一晶圆卡盘,使所述第二晶圆脱离所述第二晶圆卡盘,所述第一晶圆和所述第二晶圆完全贴合并完全键合。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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