[发明专利]表面纹理测量设备的控制方法有效
| 申请号： | 201811033220.9 | 申请日： | 2018-09-05 |
| 公开（公告）号： | CN109425320B | 公开（公告）日： | 2022-06-03 |
| 发明（设计）人： | 平野宏太郎 | 申请（专利权）人： | 株式会社三丰 |
| 主分类号： | G01B21/20 | 分类号： | G01B21/20;G01B21/30 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人： | 刘新宇 |
| 地址： | 日本神*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： |
提供了一种表面纹理测量设备的控制方法，该表面纹理测量设备配备有无法检测边缘部分以自动进行边缘检测并自动设置工件坐标系的探测器。因此，可以减少在设置坐标系时各个操作者的差异，并且提高坐标系设置的可作业性。利用探测器(260)沿预设的预备测量路径(PL)扫描待测面(S |
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| 搜索关键词： | 表面 纹理 测量 设备 控制 方法 | ||
【主权项】：
1.一种表面纹理测量设备的控制方法，所述表面纹理测量设备用于利用接触式或非接触式的探测器来扫描待测物体的表面并测量所述待测物体的表面的形状，所述控制方法包括：利用所述探测器沿预设的预备测量路径来扫描所述待测物体的表面；在发生所述探测器的检测错误的情况下，将紧接在发生所述检测错误之前的测量值临时登记为临时边缘点；以及在沿着所述预备测量路径进行预定距离的后续扫描期间所述检测错误继续发生的情况下，将临时登记的临时边缘点设置为边缘点。
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