[发明专利]表面纹理测量设备的控制方法有效

专利信息
申请号: 201811033220.9 申请日: 2018-09-05
公开(公告)号: CN109425320B 公开(公告)日: 2022-06-03
发明(设计)人: 平野宏太郎 申请(专利权)人: 株式会社三丰
主分类号: G01B21/20 分类号: G01B21/20;G01B21/30
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇
地址: 日本神*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 表面 纹理 测量 设备 控制 方法
【权利要求书】:

1.一种表面纹理测量设备的控制方法,所述表面纹理测量设备用于利用接触式或非接触式的探测器来扫描待测物体的表面并测量所述待测物体的表面的形状,所述控制方法包括:

利用所述探测器沿预设的预备测量路径来扫描所述待测物体的表面;

在沿着所述预备测量路径扫描所述待测物体的表面期间,在发生所述探测器的检测错误的情况下,将紧接在发生所述检测错误之前的测量值临时登记为临时边缘点;以及

在沿着所述预备测量路径进行预定距离的后续扫描期间所述检测错误继续发生的情况下,将临时登记的临时边缘点设置为边缘点,

在所述待测物体的表面超过所述探测器的测量范围时,发生所述检测错误。

2.根据权利要求1所述的表面纹理测量设备的控制方法,其中,所述预备测量路径被设置成在机器坐标系中从虚拟设置的虚拟待测物体的虚拟待测面延伸,并且在跨越虚拟边缘之后进一步直线延伸。

3.根据权利要求1所述的表面纹理测量设备的控制方法,其中,所述探测器是彩色点传感器。

4.一种表面纹理测量设备的控制方法,所述表面纹理测量设备用于利用接触式或非接触式的探测器扫描待测物体的表面并测量所述待测物体的表面的形状,所述控制方法包括:

将预备测量路径预设成从所述待测物体外侧朝向所述待测物体延伸;

在所述探测器在所述待测物体外侧沿着所述预备测量路径扫描期间输出检测错误;

在所述探测器在所述待测物体外侧沿着所述预备测量路径扫描期间,在所述探测器到达所述待测物体的边缘的情况下获取测量值;以及

将由于所述检测错误而不能获取到测量值的状态改变为能够获取到测量值的状态的点设置为边缘点,

在所述待测物体的表面超过所述探测器的测量范围时,发生所述检测错误。

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