[发明专利]用于数字X射线检测器的阵列基板及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201811032908.5 申请日: 2018-09-05
公开(公告)号: CN109427837B 公开(公告)日: 2023-05-26
发明(设计)人: 罗炯壹;李汉锡;金廷俊;郑丞容 申请(专利权)人: 乐金显示有限公司
主分类号: H01L27/146 分类号: H01L27/146;H01L27/12;G01T1/36
代理公司: 北京市集佳律师事务所 16095 代理人: 刘敏
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种用于数字X射线检测器的阵列基板可以包括:基底基板;被设置在基底基板上方的薄膜晶体管;正‑本征‑负(positive‑intrinsic‑negative,PIN)二极管,其包括电连接至薄膜晶体管的下电极、被设置在下电极上方的第一PIN层和被设置在第一PIN层上方的上电极;与PIN二极管间隔开的第二PIN层,第二PIN层被设置在薄膜晶体管上方;以及电连接至上电极的偏置电极。
搜索关键词: 用于 数字 射线 检测器 阵列 及其 制造 方法
【主权项】:
1.一种用于数字X射线检测器的阵列基板,所述阵列基板包括:基底基板;被设置在所述基底基板上方的薄膜晶体管;正‑本征‑负二极管,其包括电连接至所述薄膜晶体管的下电极、被设置在所述下电极上方的第一正‑本征‑负层以及被设置在所述第一正‑本征‑负层上方的上电极;与所述正‑本征‑负二极管间隔开的第二正‑本征‑负层,所述第二正‑本征‑负层被设置在所述薄膜晶体管上方;以及电连接至所述上电极的偏置电极。
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