[发明专利]利用高阶高斯回归滤波和Radon变换提取表面特征的方法

摘要

本发明公开了利用高阶高斯回归滤波和Radon变换提取表面特征的方法，其通过缸体表面的测试数据和滤波中线得到表面粗糙度数据，对表面粗糙度数据进行Radon变化，并求得极大值点主要分布值得到沟槽中心线信息，进一步得到所有沟槽的宽度信息，从而依据获得缸体表面沟槽信息以评估缸体的加工过程，该方法利用高阶高斯回归滤波对表面形貌数据进行预处理，然后结合Radon变换的特点将其运用在了珩磨表面沟槽特征的提取上，解决沟槽密集处由于特征方向性减弱所造成的特征提取困难的问题。

主权项

1.利用高阶高斯回归滤波和Radon变化提取表面特征的方法，其特征在于，具体步骤为：S1.测试得到缸体表面的测试数据z(t)，利用高阶高斯回归滤波方法计算缸孔表面的滤波中线C(t)，得到表面粗糙度数据f(t)＝z(t)‑C(t)，t为缸体表面测试点的坐标值；S2.求解表面粗糙度数据f(t)所有的极小值点并进行Radon变换，Radon变换为从角度θ和距离l上对表面数据进行泛函积分从而得到数组[a_lθ]，a_lθ为数组元素；S3.将数组[a_lθ]的每列的数据累加得到一个数组其中thr为Radon变化积分线距中心点距离的最大值，将数组作图得到极大值点主要分布的三个θ值；S4.提取极大值点主要分布的三个θ值在数组[a_lθ]的三列数据，统计三列数据中的极大值点并得到极大值点的纵坐标l；统计所有极大值点的θ和l的数据从而得到所有沟槽的中心线信息；S5.依据所有沟槽的中心线信息和表面粗糙度数据得到所有沟槽的宽度信息，从而依据获得缸体表面沟槽信息以评估缸体的加工过程。