[发明专利]一种高效铜钼蚀刻液及蚀刻方法在审

专利信息
申请号: 201811013298.4 申请日: 2018-08-31
公开(公告)号: CN109136931A 公开(公告)日: 2019-01-04
发明(设计)人: 赵芬利 申请(专利权)人: 深圳市华星光电技术有限公司
主分类号: C23F1/44 分类号: C23F1/44;C23F1/18;C23F1/26
代理公司: 深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙) 44300 代理人: 黄威
地址: 518132 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提供一种高效铜钼蚀刻液,包括:所述蚀刻液的主要成分包括占蚀刻液总质量百分比为7~15%的过氧化氢、占蚀刻液总质量百分比为2~7%的调节剂、占蚀刻液总质量百分比为1~3%的稳定剂、占蚀刻液总质量百分比为3~10%的有机酸、占蚀刻液总质量百分比为0.001~1%的抑制剂以及占蚀刻液总质量百分比为1~10%的pH调节剂,余量为去离子水;本发明还提供一种用于铜钼金属膜层的蚀刻方法。有益效果:本发明所提供的高效铜钼蚀刻液及蚀刻方法,将含有过氧化氢的蚀刻液在蚀刻前通过微波辐射保持特定温度不变,增强了对铜钼金属膜层的氧化能力,进一步加快了蚀刻反应速率,更进一步提升了蚀刻品质。
搜索关键词: 蚀刻液 蚀刻 质量百分比 铜钼 金属膜层 过氧化氢的 过氧化氢 去离子水 微波辐射 氧化能力 调节剂 稳定剂 抑制剂 有机酸
【主权项】:
1.一种高效铜钼蚀刻液,其特征在于,包括:所述蚀刻液的主要成分包括占所述蚀刻液总质量百分比为7~15%的过氧化氢、占所述蚀刻液总质量百分比为2~7%的调节剂、占所述蚀刻液总质量百分比为1~3%的稳定剂、占所述蚀刻液总质量百分比为3~10%的有机酸、占所述蚀刻液总质量百分比为0.001~1%的抑制剂以及占所述蚀刻液总质量百分比为1~10%的pH调节剂,余量为去离子水。
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