[发明专利]双栅结构黑磷场效应管在审

专利信息
申请号: 201810994244.4 申请日: 2018-08-29
公开(公告)号: CN109326651A 公开(公告)日: 2019-02-12
发明(设计)人: 沈志豪;赵剑飞;江斌;王伟 申请(专利权)人: 南京邮电大学
主分类号: H01L29/786 分类号: H01L29/786;H01L29/24
代理公司: 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 代理人: 柏尚春
地址: 210046 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种双栅结构黑磷场效应管,包括导电沟道、源区、漏区、栅极氧化层、二氧化硅隔离层、硅材料衬底、源极、漏极和第一栅极,所述的导电沟道、源区和漏区为黑磷材料,栅极氧化层在所述导电沟道、源区和漏区上方,第一栅极设置在导电沟道上方栅极氧化层的外表面,在漏区上方栅极氧化层的外表面上设置第二栅极。本发明能够在降低闭态电流,消除短沟道效应的同时,维持较大的导通电流,在未来纳米电子应用领域有着广阔的前景。
搜索关键词: 栅极氧化层 导电沟道 漏区 黑磷 源区 场效应管 双栅结构 二氧化硅隔离层 短沟道效应 导通电流 纳米电子 硅材料 闭态 衬底 漏极 源极
【主权项】:
1.一种双栅结构黑磷场效应管,包括导电沟道(1)、源区(2)、漏区(3)、栅极氧化层(4)、二氧化硅隔离层(5)、硅材料衬底(6)、源极(7)、漏极(8)和第一栅极(9);其特征在于:所述的导电沟道(1)、源区(2)和漏区(3)为黑磷材料,在漏区(3)上方栅极氧化层(4)的外表面上设置第二栅极(10)。
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