[发明专利]一种芯片复位测试板及测试方法在审
| 申请号： | 201810973270.9 | 申请日： | 2018-08-24 |
| 公开（公告）号： | CN110857959A | 公开（公告）日： | 2020-03-03 |
| 发明（设计）人： | 焦继业;高红兵;徐超 | 申请（专利权）人： | 西安恩狄集成电路有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 西安嘉思特知识产权代理事务所(普通合伙) 61230 | 代理人： | 郝梦玲 |
| 地址： | 710075 陕西省西安*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种芯片复位测试板，包括：微控制器(1)、数字模拟转换器(2)、运算放大电路(3)、电平转换电路(4)、低压差稳压器(5)、显示屏(6)和待测芯片(7)。本发明提供的芯片复位测试板，通过将模拟信号输入至运算放大电路，对功率和电压放大后作为待测芯片电源使用，通过参数配置，可以涵盖更多的电源脉冲波形，可以比较全面的测出芯片复位异常的情况，使得芯片测试更加精确，且易于实现自动测试以及批量测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 复位 测试 方法 | ||
【主权项】：
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