[发明专利]一种摄像头污点检测方法、装置、设备及存储介质有效
申请号: | 201810958638.4 | 申请日: | 2018-08-22 |
公开(公告)号: | CN109118498B | 公开(公告)日: | 2021-04-30 |
发明(设计)人: | 吴华鑫;胡诗卉 | 申请(专利权)人: | 科大讯飞股份有限公司 |
主分类号: | G06T7/11 | 分类号: | G06T7/11;G06T7/00 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 王云晓;王宝筠 |
地址: | 230088 安徽*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 本申请提供了一种摄像头污点检测方法、装置、设备及存储介质,方法包括:获取目标场景下的目标图像序列,目标图像序列包括目标图像和目标图像之前和/或之后的N帧图像;基于目标图像序列确定目标图像对应的统计特征,并基于统计特征确定目标图像中的污点遮挡区域;通过预先建立的污点检测模型,从目标图像中检测出污点遮挡区域;将基于统计特征确定出的污点遮挡区域和通过污点检测模型检测出的污点遮挡区域进行融合,得到目标图像最终的污点检测结果。本申请提供的摄像头污点检测方法、装置、设备及存储介质,可实现运动场景下污点的实时检测,并且,污点检测准确率较高、检测运算负担较小,即检测效果较好。 | ||
搜索关键词: | 一种 摄像头 污点 检测 方法 装置 设备 存储 介质 | ||
【主权项】:
1.一种摄像头污点检测方法,其特征在于,包括:获取目标场景下的目标图像序列,所述目标图像序列包括目标图像和所述目标图像之前和/或之后的N帧图像,其中,N为大于等于1的整数;基于所述目标图像序列确定所述目标图像对应的统计特征,并基于所述统计特征确定所述目标图像中的污点遮挡区域;通过预先建立的污点检测模型,从所述目标图像中检测出污点遮挡区域;将基于所述统计特征确定出的污点遮挡区域和通过所述污点检测模型检测出的污点遮挡区域进行融合,得到所述目标图像最终的污点检测结果。
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