[发明专利]半导体装置、信号处理系统和信号处理方法在审
| 申请号： | 201810931538.2 | 申请日： | 2018-08-16 |
| 公开（公告）号： | CN109428596A | 公开（公告）日： | 2019-03-05 |
| 发明（设计）人： | 児玉宽人;工藤雅树;楠武志 | 申请（专利权）人： | 瑞萨电子株式会社 |
| 主分类号： | H03M1/10 | 分类号： | H03M1/10 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 张小稳 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本公开涉及半导体装置、信号处理系统和信号处理方法。提供了调节老化劣化时的特性的改变的半导体装置、信号处理系统和信号处理方法。本发明的半导体装置包括：参考电压生成电路，生成参考电压；模拟信号处理电路，根据所述参考电压输出第一处理信号；测试信号输出部分，输出具有比所述第一处理信号低的电压的第二处理信号作为测试信号；输入部分，接收用于输出的测试信号的调节信号；以及调节器电路，响应于所述调节信号调节所述模拟信号处理电路的输出。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体装置 信号处理系统 输出 测试信号 处理信号 信号处理 模拟信号处理电路 参考电压 调节信号 参考电压生成电路 调节器电路 劣化 老化 响应 | ||
【主权项】：
1.一种半导体装置，包括：参考电压生成电路，生成参考电压；模拟信号处理电路，根据所述参考电压输出第一处理信号；测试信号输出部分，输出具有比所述第一处理信号低的电压的第二处理信号作为测试信号；输入部分，接收用于输出的测试信号的调节信号，以及调节器电路，响应于所述调节信号来调节所述模拟信号处理电路的输出。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于瑞萨电子株式会社，未经瑞萨电子株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201810931538.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：连续逼近式模拟至数字转换的校正装置
- 下一篇：模拟数字转换器
