[发明专利]一种塑封微电子器件绝缘性测试设备

摘要

本发明公开了一种塑封微电子器件绝缘性测试设备，涉及微电子技术领域。该塑封微电子器件绝缘性测试设备，包括测试设备本体，所述测试设备本体的底部设置有底座，底座底部正面和背面的两侧均固定连接有滑轮，底座的正面和背面均开设有通槽，通槽的外侧与底座的内腔相连通，底座的正面和背面均设置有踩踏板。该塑封微电子器件绝缘性测试设备，通过滑轮、通槽、踩踏板、第一转轴、第一连接杆、第二连接杆、第一弹簧、顶板、转动板、第二转轴、支架、第二弹簧、第一移动杆、移动块、滑块、第二移动杆、移动槽、固定板、滑条、环形块和插条的结构设计，解决了塑封微电子器件绝缘性测试设备不便于移动而导致不便于运输的问题。

主权项

1.一种塑封微电子器件绝缘性测试设备，包括测试设备本体(1)，其特征在于：所述测试设备本体(1)的底部设置有底座(2)，所述底座(2)底部正面和背面的两侧均固定连接有滑轮(3)，所述底座(2)的正面和背面均开设有通槽(4)，所述通槽(4)的外侧与底座(2)的内腔相连通，所述底座(2)的正面和背面均设置有踩踏板(5)，所述踩踏板(5)贯穿通槽(4)并延伸至底座(2)的内腔，所述踩踏板(5)的内腔贯穿连接有第一转轴(6)，所述第一转轴(6)的两端分别与通槽(4)内壁的两侧固定连接，所述踩踏板(5)的底部和底座(2)内壁的底部之间固定连接有第一连接杆(7)，所述第一连接杆(7)的外侧套接有第二连接杆(8)，所述第一连接杆(7)的底部与第二连接杆(8)内壁的底部之间固定连接有第一弹簧(9)，所述踩踏板(5)的顶部固定连接有顶板(10)，所述顶板(10)的顶部搭接有转动板(11)，所述转动板(11)的中部贯穿连接有第二转轴(12)，所述第二转轴(12)的两端均固定连接有支架(13)，所述支架(13)的顶部与底座(2)内壁的顶部固定连接，所述顶板(10)顶部的正面和背面均固定连接有第二弹簧(14)；所述转动板(11)的底部的两侧活动连接有第一移动杆(15)，所述第一移动杆(15)远离转动板(11)的一端活动连接有移动块(16)，所述移动块(16)的正面和背面均固定连接有滑块(17)，所述移动块(16)的外侧活动连接有第二移动杆(18)，所述底座(2)正面和背面的两侧均开设有移动槽(19)，所述第二移动杆(18)远离移动块(16)的一端活动连接有固定板(20)，所述固定板(20)面对底座(2)一侧的正面和背面均固定连接有滑条(21)，所述通槽(4)的两侧均设置有环形块(22)，所述环形块(22)的外侧设置有插条(23)。