[发明专利]一种测量阿秒脉冲椭偏率的方法有效
| 申请号： | 201810890161.0 | 申请日： | 2018-08-07 |
| 公开（公告）号： | CN109186769B | 公开（公告）日： | 2019-11-22 |
| 发明（设计）人： | 兰鹏飞;翟春洋;张银福;何立新;陆培祥 | 申请（专利权）人： | 华中科技大学 |
| 主分类号： | G01J4/00 | 分类号： | G01J4/00;G01J11/00 |
| 代理公司： | 42201 华中科技大学专利中心 | 代理人： | 廖盈春;曹葆青<国际申请>=<国际公布> |
| 地址： | 430074 湖北*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种利用光电子谱测量阿秒脉冲椭偏率的方法。首先，将由近红外激光脉冲和阿秒脉冲构成的合束光聚焦在气体介质上，经过电离形成包含阿秒脉冲信息的光电子信号，采集光电子信号，获得光电子谱；然后，利用含时薛定谔方程计算光电子谱和阿秒脉冲的关系，通过分析光电子谱得到阿秒脉冲椭偏率。本发明提出了一种通过探测光电子谱即可实现获取阿秒脉冲椭偏率的方法，这是一种简单有效，并且具有广泛适用性的方法。 | ||
| 搜索关键词： | 阿秒脉冲 光电子谱 光电子信号 测量 含时薛定谔方程 近红外激光 气体介质 合束光 电离 脉冲 聚焦 探测 采集 分析 | ||
【主权项】：
1.一种测量阿秒脉冲椭偏率的方法，其特征在于，包括如下步骤：/nS1 将近红外激光脉冲与椭偏率待测的阿秒脉冲合束聚焦后与气体介质相互作用产生光电子信号，并收集光电子信号获得光电子谱；/nS2 利用三维含时薛定谔方程计算所述阿秒脉冲的椭偏率和所述光电子谱的角分布的关系ε＝A·θ+B，并根据所述阿秒脉冲的椭偏率和所述光电子谱的角分布的关系对光电子谱进行分析并标定阿秒脉冲的椭偏率；/n所述三维含时薛定谔方程为
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