[发明专利]T形结构成形件中缺陷的空间定位方法

摘要

本发明属于零部件缺陷定位技术领域，具体涉及一种T形结构成形件中缺陷的空间定位方法，通过对T形结构成形件进行左右旋转45°，获得该T形结构成形件左右旋转的X射线检测图像，选用X射线穿透T形结构成形件直角角平分线(面)为定位特征点；借助两幅X射线检测图像各部分之间的几何关系建立通用的缺陷深度和偏移量计算的数学模型；其中，缺陷深度的数学模型为缺陷偏移量的数学模型为本发明适用于T形结构成形件中批量缺陷的空间定位，应用范围广，操作方便，易于实现，参考价值大，工程应用前景广阔。

主权项

1.一种T形结构成形件中缺陷的空间定位方法，其特征在于，包括以下步骤：1)对T形结构成形件进行左右旋转，旋转角度均为45°，并获得该T形结构成形件左右旋转的X射线检测图像；2)选用X射线穿透T形结构成形件直角角平分线(面)为定位特征点；3)借助两幅X射线检测图像各部分之间的几何关系建立通用的缺陷深度和偏移量计算的数学模型；其中，缺陷深度的数学模型如下：缺陷偏移量的数学模型如下：式中：h‑缺陷到水平板下表面的距离(mm)，即缺陷深度；dl‑T形结构成形件右转时缺陷中心点到定位特征点的投影距离(mm)；dr‑T形结构成形件左转时缺陷中心点到定位特征点的投影距离(mm)；a‑垂直板宽度(mm)；b‑水平板厚度(mm)；x‑缺陷偏离垂直板中心线的距离(mm)，即缺陷偏移量。