[发明专利]T形结构成形件中缺陷的空间定位方法在审

专利信息
申请号: 201810889872.6 申请日: 2018-08-06
公开(公告)号: CN109060845A 公开(公告)日: 2018-12-21
发明(设计)人: 石端虎;沙静;赵洪枫;吴三孩;杨峰;何敏;王晓溪 申请(专利权)人: 徐州工程学院
主分类号: G01N23/04 分类号: G01N23/04
代理公司: 徐州市三联专利事务所 32220 代理人: 何君
地址: 221000 江苏省徐州市泉山区南三环*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 成形件 空间定位 数学模型 左右旋转 图像 偏移量计算 应用范围广 定位特征 工程应用 几何关系 角平分线 缺陷定位 偏移量 通用的 穿透 零部件 参考
【权利要求书】:

1.一种T形结构成形件中缺陷的空间定位方法,其特征在于,包括以下步骤:

1)对T形结构成形件进行左右旋转,旋转角度均为45°,并获得该T形结构成形件左右旋转的X射线检测图像;

2)选用X射线穿透T形结构成形件直角角平分线(面)为定位特征点;

3)借助两幅X射线检测图像各部分之间的几何关系建立通用的缺陷深度和偏移量计算的数学模型;

其中,缺陷深度的数学模型如下:

缺陷偏移量的数学模型如下:

式中:h-缺陷到水平板下表面的距离(mm),即缺陷深度;

dl-T形结构成形件右转时缺陷中心点到定位特征点的投影距离(mm);

dr-T形结构成形件左转时缺陷中心点到定位特征点的投影距离(mm);

a-垂直板宽度(mm);

b-水平板厚度(mm);

x-缺陷偏离垂直板中心线的距离(mm),即缺陷偏移量。

2.根据权利要求1所述的T形结构成形件中缺陷的空间定位方法,其特征在于,步骤3中,dr和dl的投影距离通过对T形结构成形件左右旋转后获得的X射线检测图像进行缺陷分割和缺陷细化获得。

3.根据权利要求2所述的T形结构成形件中缺陷的空间定位方法,其特征在于,缺陷细化是把分割后的缺陷从周围四个方向不断向内缩减直至获得缺陷的中心点的方法。

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