[发明专利]一种基于数理分析的结构光相位展开方法有效

专利信息
申请号: 201810888929.0 申请日: 2018-08-07
公开(公告)号: CN109211140B 公开(公告)日: 2020-12-08
发明(设计)人: 易京亚;卢盛林 申请(专利权)人: 广东奥普特科技股份有限公司
主分类号: G01B11/25 分类号: G01B11/25
代理公司: 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 代理人: 潘俊达
地址: 523000 广东省东莞*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明属于结构光三维测量技术领域,具体涉及一种基于数理分析的结构光相位展开次级表构建方法,包括如下步骤:包括如下步骤:S1、采用不同频率条纹进行投影测量,其中频率指单幅条纹图中条纹数目,各频率之间满足一定关系,确保通过外差法最终能获得单频相位图;S2、利用外差法对相机捕获的多频变形条纹图进行计算,获得两种频率为相邻整数的截断相位图;S3、将所获的两种相邻整数频率,代入次级表构建公式,快速构建相位展开次级表;S4、检索次级表对截断相位进行相位展开。该方法生成过程简单、快捷,满足3D重建对精度和速度的要求,其中对初始频率的约束要求在大多数情况下容易满足。
搜索关键词: 一种 基于 数理 分析 结构 相位 展开 方法
【主权项】:
1.一种基于数理分析的结构光相位展开次级表构建方法,其特征在于,包括如下步骤:S1、采用不同频率条纹进行投影测量,其中频率指单幅条纹图中条纹数目,各频率之间满足一定关系,确保通过外差法最终能获得单频相位图;S2、利用外差法对相机捕获的多频变形条纹图进行计算,获得两种频率为相邻整数的截断相位图;S3、将所获的两种相邻整数频率,代入次级表构建公式,快速构建相位展开次级表;S4、检索次级表对截断相位进行相位展开。
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