[发明专利]自动光学检验设备问题点二次校验方法有效
| 申请号： | 201810875061.0 | 申请日： | 2018-08-03 |
| 公开（公告）号： | CN109146858B | 公开（公告）日： | 2021-09-17 |
| 发明（设计）人： | 邱锡曼;刘宝勇;芦保民;李志雄;陈晓宁;李兵;李升强;张志平;白克容 | 申请（专利权）人： | 诚亿电子（嘉兴）有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00 |
| 代理公司： | 嘉兴启帆专利代理事务所(普通合伙) 33253 | 代理人： | 程开生 |
| 地址： | 314000 浙*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种自动光学检验设备问题点二次校验方法。步骤S1：输入问题点，并且根据预置的比对原则判断本次输入的问题点是否为真点。步骤S2：针对步骤S1中判断为真点的问题点或者步骤S3中判断未完成修理的问题点进行修理。步骤S3：针对步骤S2中的屏幕打印的图像，根据预置的比对原则判断上述图像是否已经完成修理。本发明公开的自动光学检验设备问题点二次校验方法，如果问题点判断为真点则在完成修理后增加二次校验过程，如果问题点判断为不是真点则进行屏幕打印以备查，最大限度地降低漏检率、错检率和误检率，杜绝故意对问题点不做处理和/或问题点修理不达标即放行的可能性。 | ||
| 搜索关键词： | 自动 光学 检验 设备 问题 二次 校验 方法 | ||
【主权项】：
1.一种自动光学检验设备问题点二次校验方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤S1：输入问题点，并且根据预置的比对原则判断本次输入的问题点是否为真点，如果判断为真则执行步骤S2，否则进行屏幕打印并且重复执行步骤S1；步骤S2：针对步骤S1中判断为真点的问题点或者步骤S3中判断未完成修理的问题点进行修理，并且对于完成修理的问题点进行屏幕打印；步骤S3：针对步骤S2中的屏幕打印的图像，根据预置的比对原则判断上述图像是否已经完成修理，如果判断为真则执行步骤S1，否则执行步骤S2。
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