[发明专利]受反射影响的红外测温修正方法、装置、设备及存储介质有效
| 申请号： | 201810846018.1 | 申请日： | 2018-07-27 |
| 公开（公告）号： | CN108775963B | 公开（公告）日： | 2019-11-12 |
| 发明（设计）人： | 张南;张勇 | 申请（专利权）人： | 合肥英睿系统技术有限公司 |
| 主分类号： | G01J5/00 | 分类号： | G01J5/00 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 罗满 |
| 地址： | 230012 安徽省合*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种受反射影响的红外测温修正方法、装置、设备及存储介质，该方法包括：在相对固定的场景下进行测温时，采用双光融合法同时采集红外图像和可见光图像；在整个测温周期中记录基准红外图像；对采集到的所述可见光图像进行图像区域分割；将所述可见光图像中分割后的区域在所述基准红外图像中判定区域内的一致性；根据区域一致性的判定结果，对所述红外图像中对应的区域内受反射影响产生的灰度值变化进行修正。本申请使用普通摄像头采集可见光数据，通过算法层面进行了反射影响的修正，解决了因为被测物体表面反射其他物体的红外线造成测温偏差的问题，减少反射现象对测温的影响，方法简单快捷且准确率高。 | ||
| 搜索关键词： | 反射 红外图像 测温 可见光图像 修正 存储介质 红外测温 被测物体表面 图像区域分割 采集 灰度值变化 可见光数据 摄像头采集 判定结果 红外线 准确率 双光 算法 申请 判定 场景 分割 融合 记录 | ||
【主权项】：
1.一种受反射影响的红外测温修正方法，其特征在于，包括：在相对固定的场景下进行测温时，采用双光融合法同时采集红外图像和可见光图像；在整个测温周期中记录基准红外图像；对采集到的所述可见光图像进行图像区域分割；将所述可见光图像中分割后的区域在所述基准红外图像中判定区域内的一致性；当所述区域内被判定一致时，判定所述红外图像中对应的区域内灰度值是否大于阈值；若是，则判定是所述区域内部分图像受到反射影响；在所述区域内通过形态学运算修复受反射影响的部分图像的实际灰度，得到修正反射影响后的测温数据。
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