[发明专利]受反射影响的红外测温修正方法、装置、设备及存储介质

说明书

本申请公开了一种受反射影响的红外测温修正方法、装置、设备及存储介质，该方法包括：在相对固定的场景下进行测温时，采用双光融合法同时采集红外图像和可见光图像；在整个测温周期中记录基准红外图像；对采集到的所述可见光图像进行图像区域分割；将所述可见光图像中分割后的区域在所述基准红外图像中判定区域内的一致性；根据区域一致性的判定结果，对所述红外图像中对应的区域内受反射影响产生的灰度值变化进行修正。本申请使用普通摄像头采集可见光数据，通过算法层面进行了反射影响的修正，解决了因为被测物体表面反射其他物体的红外线造成测温偏差的问题，减少反射现象对测温的影响，方法简单快捷且准确率高。

技术领域

本发明涉及红外测温技术领域，特别是涉及一种受反射影响的红外测温修正方法、装置、设备及存储介质。

背景技术

发射率表示物体的红外辐射的发射能力，反射率表示物体对射入到其上的红外辐射的反射能力，发射率和反射率的和为1。除了理想黑体的发射率为1，反射率为0，其他一般物体对于红外辐射都有一定的反射能力，因此红外热像仪接受到目标物体的红外辐射由目标本身发射的红外线和反射其他物体的红外线组成，尤其对于光洁度比较高的物体表面，反射率比较高，因此利用红外测温时会产生偏差，当反射相对高温度的物体时，测到目标物体的温度比其实际温度偏高，当反射相对低温度的物体时，测到目标物体的温度比起实际温度偏低。

而目前红外测温中温度修正的方法都是从发射率的方面进行修正，例如使用额外的发射率测定仪测定物体的发射率，或者采用一定的图像目标识别方法识别当前目标物体从而根据材质查找其发射率，或者根据多光谱下图像灰度的情况推断其发射率，然后作发射率修正，推算出物体目标的实际温度。这些修正都没有考虑反射的影响，在环境比较复杂的测温场景下反射会造成相当大的测温偏差。

因此，如何解决因为被测物体表面反射其他物体的红外线造成测温偏差的问题，是本领域技术人员亟待解决的技术问题。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的在于提供一种受反射影响的红外测温修正方法、装置、设备及存储介质，解决了因为被测物体表面反射其他物体的红外线造成测温偏差的问题，方法简单快捷且准确率高。其具体方案如下：

一种受反射影响的红外测温修正方法，包括：

在相对固定的场景下进行测温时，采用双光融合法同时采集红外图像和可见光图像；

在整个测温周期中记录基准红外图像；

对采集到的所述可见光图像进行图像区域分割；

将所述可见光图像中分割后的区域在所述基准红外图像中判定区域内的一致性；

根据区域一致性的判定结果，对所述红外图像中对应的区域内受反射影响产生的灰度值变化进行修正。

优选地，在本发明实施例提供的上述受反射影响的红外测温修正方法中，将所述可见光图像中分割后的区域在所述基准红外图像中判定区域内的一致性，具体包括：

判断所述可见光图像中分割后的区域在所述基准红外图像中对应的区域内灰度值是否一致；

若是，则判定所述可见光图像中所述区域是一致性区域；

若否，则判定所述可见光图像中所述区域不是一致性区域。

优选地，在本发明实施例提供的上述受反射影响的红外测温修正方法中，根据区域一致性的判定结果，对所述红外图像中对应的区域内受反射影响产生的灰度值变化进行修正，具体包括：

当所述区域内被判定一致时，判定所述红外图像中对应的区域内灰度值是否大于阈值；

若是，则判定是所述区域内部分图像受到反射影响；

在所述区域内通过形态学运算修复受反射影响的部分图像的实际灰度，得到修正反射影响后的测温数据。