[发明专利]一种预测晶体在吸湿作用下的聚结率和聚结强度的方法有效
| 申请号： | 201810844004.6 | 申请日： | 2018-07-27 |
| 公开（公告）号： | CN108959817B | 公开（公告）日： | 2023-07-11 |
| 发明（设计）人： | 龚俊波;陈明洋;雷亚伟;朱明河;侯宝红 | 申请（专利权）人： | 天津大学 |
| 主分类号： | G06F30/20 | 分类号： | G06F30/20 |
| 代理公司： | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 | 代理人： | 曹玉平 |
| 地址： | 300350 天津市津南区海*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明公开一种预测晶体在毛细冷凝吸湿作用下的聚结率和聚结强度的方法。基于离散元方法模拟晶体粒子堆积过程，预测考虑晶体形状和粒度分布特征的晶体粒子群的随机接触状态；测定晶体粒子聚结的最小晶桥直径、晶体粒子与水的接触角、晶体粒子的毛细冷凝点和潮解点；设定吸湿环境循环湿度，测定单次循环总吸湿量；根据Kelvin公式、接触角、单次循环总吸湿量、晶体粒子群随机接触状态，计算两个晶体之间单次循环的吸湿量，根据晶体溶解度进而得到两个晶体之间单次循环的晶桥生成量，结合最小晶桥尺寸，预测晶体粒子群随时间和湿度循环过程聚结率和聚结强度变化情况。实验数据快速易得，将数月的聚结研究缩短至几天内完成，并提高预测准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 预测 晶体 吸湿 作用 聚结 强度 方法 | ||
【主权项】：
1.一种预测晶体在吸湿作用下的聚结率和聚结强度的方法，其特征在于：(1)基于离散元方法(DEM,discrete element method)模拟晶体粒子堆积过程，预测考虑了晶体形状和粒度分布特征的晶体粒子群的随机接触状态；(2)测定晶体粒子聚结的最小晶桥直径；(3)测定晶体粒子与水的接触角；(4)测定晶体粒子的毛细冷凝点和潮解点；(5)设定吸湿环境的循环湿度，测定单次循环的总吸湿量；(6)根据Kelvin公式、接触角、单次循环的总吸湿量、晶体粒子群的随机接触状态，计算两个晶体之间的单次循环的吸湿量，根据晶体溶解度进而得到两个晶体之间的单次循环的晶桥生成量，结合最小晶桥尺寸，预测晶体粒子群随时间和湿度循环过程的聚结率和聚结强度的变化情况。
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