[发明专利]一种化学发光分析测定方法及使用该方法的系统、试剂盒有效
申请号: | 201810803878.7 | 申请日: | 2018-07-20 |
公开(公告)号: | CN110514646B | 公开(公告)日: | 2023-01-20 |
发明(设计)人: | 杨阳;赵卫国;刘宇卉;李临 | 申请(专利权)人: | 科美博阳诊断技术(上海)有限公司;科美诊断技术股份有限公司 |
主分类号: | G01N21/76 | 分类号: | G01N21/76;G01N33/543 |
代理公司: | 北京聿宏知识产权代理有限公司 11372 | 代理人: | 吴大建;陈伟 |
地址: | 200131 上海市浦东新区*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明涉及化学发光技术领域的一种化学发光分析测定方法、一种使用化学发光分析测定方法的系统和一种试剂盒。本发明方法通过多次读数后,选取两次读数来拓宽检测范围、指示HD‑HOOK样本或超检测范围样本,并在检测过程中,简便快速地计算出待测物浓度。 | ||
搜索关键词: | 一种 化学发光分析 测定 方法 使用 系统 试剂盒 | ||
【主权项】:
1.一种化学发光分析测定方法,其包括如下步骤:/n(1)将疑似含待测目标分子的待测样本与发生化学发光反应所需的试剂混合后反应形成待测混合物;/n(2)先后t次激发所述待测混合物发生化学发光,n次记录所述化学发光的信号值;其中,第n次记录的化学发光信号值记为读数RLUn;/n(3)选取所述n次记录的化学发光信号值中的任意两次信号值,分别记为读数RLUm和读数RLUk,并将RLUm和RLUk的差值增幅记为A;/n(4)根据一系列已知浓度的含待测目标分子的标准物质以及其在步骤(2)和步骤(3)中任意两次反应的读数RLUm’和RLUk’的差值增幅A’做标准曲线;/n(5)通过将步骤(3)中得到的所述增幅A与步骤(4)中得到的所述标准曲线进行比较来确定待测目标分子的浓度;/n其中,t、n、m和k均为大于0的自然数,且k<m≤n≤t,n≥2。/n
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