[发明专利]用于同步辐射软X射线吸收谱学的部分电子产额探测装置在审
| 申请号： | 201810766780.9 | 申请日： | 2018-07-10 |
| 公开（公告）号： | CN108593688A | 公开（公告）日： | 2018-09-28 |
| 发明（设计）人： | 鞠焕鑫;丁红鹤;朱俊发;张国斌;田扬超 | 申请（专利权）人： | 中国科学技术大学 |
| 主分类号： | G01N23/083 | 分类号： | G01N23/083 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 李坤 |
| 地址： | 230026 安*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种用于同步辐射软X射线吸收谱学的部分电子产额探测装置，包括：束流监测装置，用于测量同步辐射光束流强度而产生第一电流信号；真空系统，用于放置样品，所述样品被经过所述束流监测装置的同步辐射光照射；探测器，安装于所述真空系统，用于测量所述样品经同步辐射光辐照后出射的电子而产生第二电流信号；数据采集控制单元，连接光束线单色器、所述束流监测装置和所述探测器，用于控制所述光束线单色器进行能量扫描，采集所述第一电流信号和所述第二电流信号，生成软X射线吸收谱图结果。 | ||
| 搜索关键词： | 电流信号 同步辐射光 束流监测 软X射线 探测装置 同步辐射 真空系统 单色器 光束线 探测器 测量 数据采集控制单元 辐照 能量扫描 吸收谱 出射 束流 吸收 照射 采集 | ||
【主权项】：
1.一种用于同步辐射软X射线吸收谱学的部分电子产额探测装置，其特征在于，包括：束流监测装置，用于测量同步辐射光束流强度而产生第一电流信号；真空系统，用于放置样品，所述样品被经过所述束流监测装置的同步辐射光照射；探测器，安装于所述真空系统，用于测量所述样品经同步辐射光辐照后出射的电子而产生第二电流信号；数据采集控制单元，连接光束线单色器、所述束流监测装置和所述探测器，用于控制所述光束线单色器进行能量扫描，采集所述第一电流信号和所述第二电流信号，生成软X射线吸收谱图结果。
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