[发明专利]一种自由空间下的荧光分子断层成像系统在审

专利信息
申请号: 201810761386.6 申请日: 2018-07-10
公开(公告)号: CN108836275A 公开(公告)日: 2018-11-20
发明(设计)人: 王慧泉;冯杏;赵喆;王金海 申请(专利权)人: 天津工业大学
主分类号: A61B5/00 分类号: A61B5/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 300387 *** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明提供一种自由空间下的荧光分子层析成像系统,包括激光器、电动快门、半透半反镜BS、透镜L1、透镜L2、光电二极管、滤光片F1、滤光片F2、二维激光扫描振镜、承载台、三维成像投影仪、EMCCD相机和计算机。本发明具有成像系统紧凑,使用方便等优点。本发明可通过控制采集数据量大小,利用重建算法,实现检查体的三维层析成像,准确定位荧光标记物位置和强度。
搜索关键词: 透镜 成像系统 滤光片 荧光分子断层成像 二维激光扫描 控制采集数据 三维层析成像 投影仪 半透半反镜 光电二极管 荧光标记物 荧光分子层 电动快门 三维成像 重建算法 准确定位 激光器 承载台 检查体 振镜 紧凑 计算机
【主权项】:
1.一种自由空间的荧光分子层析成像系统,其特征在于,所述成像系统包括激光器(1)、电动快门(2)、透镜L1(3)、光电二极管(4)、半透半反镜BS(5)、透镜L2(6)、滤光片F1(7)、二维激光扫描振镜(8)、承载台(9)、滤光片F2(10)、三维成像投影仪(11)、EMCCD相机(12)和计算机(13);所述激光器发出激光;所述三维成像投影仪用于对检查体进行三维投影成像;所述承载台用于承载检查体,所述检查体接受激光发出荧光;所述激光器发出激光,所述激光通过半透半反镜BS,所述半透半反镜BS将所述激光的一半经过所述的透镜L2,所述滤光片F1,打入所述二维激光扫描振镜,所述计算机发出指令触发所述二维激光扫描振镜做快速二维横向扫描,从而对所述检测体在每个角度上进行扫描;所述激光经过二维扫描振镜经过承载台上的检查体,所述激光经过检查体后产生的荧光通过滤波片F2进入EMCCD相机,所述EMCCD相机根据计算机指令进行采集,所述激光强度的另一半经过所述透镜L1聚焦到所述光电二极管上进行光电信号的转换;所述三维成像投影仪对检查体进行照射投影,得到检查体的三维图像;所述计算机对采集的信息进行处理后,再通过重建算法进行荧光分子层析重建成像,最后可以得到检查体三维立体信息;所述计算机发出指令,实现扫描控制、EMCCD相机控制、信号采集和存储功能,所述计算机与所述扫描振镜和所述EMCCD相机连接,所述计算机接收EMCCD相机传送的图像数据,并对图像数据进行分析处理。
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