[发明专利]双模探测方法、控制器和系统有效
| 申请号： | 201810755428.5 | 申请日： | 2018-07-11 |
| 公开（公告）号： | CN110779939B | 公开（公告）日： | 2020-12-29 |
| 发明（设计）人： | 杨祎罡;王学武;张智;李元景;李荐民 | 申请（专利权）人： | 同方威视技术股份有限公司;清华大学 |
| 主分类号： | G01N23/05 | 分类号： | G01N23/05;G01N23/04 |
| 代理公司： | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人： | 曹蓓;许蓓 |
| 地址： | 100084 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本公开提出一种双模探测方法、控制器和系统，涉及射线检测技术领域。本公开的一种双模探测方法包括：根据X射线物体探测数据、X射线无物体探测数据、中子物体探测数据和中子无物体探测数据，确定被测物体对于中子和X射线的微分截面的比值；根据被测物体对于X射线和中子的微分截面的比值与物质类型的对应关系识别物质类型。通过这样的方法，能够实现利用中子和X射线对被测物体的双能探测，利用物质对于中子和X射线的不同的衰减能力得到核素类型，实现识别元素种类，提高探测的精确度。 | ||
| 搜索关键词： | 双模 探测 方法 控制器 系统 | ||
【主权项】：
1.一种双模探测方法，包括：/n根据X射线物体探测数据、X射线无物体探测数据、中子物体探测数据和中子无物体探测数据，确定所述被测物体对于中子和X射线的微分截面的比值；/n根据所述被测物体对于X射线和中子的微分截面的比值与物质类型的对应关系识别物质类型。/n
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