[发明专利]一种多探头天线测试系统探头校准系统和校准方法

摘要

本发明公开了一种多探头天线测试系统的探头校准方法，所述多探头天线测试系统包括转台控制模块，通过用转台控制模块控制的水平转台和角度转台，用于安装在水平转台和角度转台上面的泡沫塑料或其他非金属类材料的支架，固定于支架上面的校准天线，用于测试幅度和相位的网络分析仪，本发明所用方法只需移动角度转台3次以及用数学递推的方式便可实现对多探头天线测试系统上所有探头的幅度和相位的校准并且不限探头的个数，大大提升了校准速度，比传统校准方式快10倍，并且由于没有使用传统校准方式中放置于系统中心位置的二维转台，消除了由该转台引起的电磁波反射误差，使得校准更加精确。

主权项

1.一种多探头天线测试系统的探头校准方法，所述多探头天线测试系统包括数据采集模块(7)、校准系数分析模块(8)、转台控制模块(9)、校准天线(3)、复数个探头(1)、水平转台(5)和角度转台(6)；所述复数个探头(1)呈环状排列，所述数据采集模块(7)与所述校准天线(3)、复数个探头(1)、校准系数分析模块(8)相连接，所述校准天线(3)位于所述复数个探头(1)所围成的环的中心位置，校准天线(3)固定于水平转台(5)和角度转台(6)上，其特征在于，所述方法包括如下步骤：所述转台控制模块(9)控制水平转台(5)和角度转台(6)使校准天线(3)指向第N号探头(1)，其中N为自然数，并使水平转台(5)按照预定的步进X°转动360/X次，数据采集模块(7)在每一个步进位置采集场强信息；所述转台控制模块(9)控制角度转台(6)使校准天线(3)指向多探头天线阵列第N‑1号探头和N号探头的中间位置，并使水平转台(5)按照预定的步进X°转动360/X次，数据采集模块(7)在每一个步进位置采集场强信息；所述转台控制模块(9)控制角度转台(6)使校准天线(3)指向多探头天线阵列第N号探头和N+1号探头的中间位置，并使水平转台(5)按照预定的步进X°转动360/X次，数据采集模块(7)在每一个步进位置采集场强信息；所述校准系数分析模块(8)根据以上步骤采集的场强信息计算出每一个探头的校准系数。