[发明专利]一种多探头天线测试系统探头校准系统和校准方法

权利要求书

1.一种多探头天线测试系统的探头校准方法，所述多探头天线测试系统包括数据采集模块(7)、校准系数分析模块(8)、转台控制模块(9)、校准天线(3)、复数个探头(1)、水平转台(5)和角度转台(6)；所述复数个探头(1)呈环状排列，所述数据采集模块(7)与所述校准天线(3)、复数个探头(1)、校准系数分析模块(8)相连接，所述校准天线(3)位于所述复数个探头(1)所围成的环的中心位置，校准天线(3)固定于水平转台(5)和角度转台(6)上，其特征在于，所述方法包括如下步骤：

所述转台控制模块(9)控制水平转台(5)和角度转台(6)使校准天线(3)指向第N号探头(1)，其中N为自然数，并使水平转台(5)按照预定的步进X°转动360/X次，数据采集模块(7)在每一个步进位置采集场强信息；

所述转台控制模块(9)控制角度转台(6)使校准天线(3)指向多探头天线阵列第N-1号探头和N号探头的中间位置，并使水平转台(5)按照预定的步进X°转动360/X次，数据采集模块(7)在每一个步进位置采集场强信息；

所述转台控制模块(9)控制角度转台(6)使校准天线(3)指向多探头天线阵列第N号探头和N+1号探头的中间位置，并使水平转台(5)按照预定的步进X°转动360/X次，数据采集模块(7)在每一个步进位置采集场强信息；

所述校准系数分析模块(8)根据以上步骤采集的场强信息计算出每一个探头的校准系数。

2.根据权利要求1所述的一种多探头天线测试系统的探头校准方法，其特征在于，数据采集模块(7)在每一个步进位置采集幅度和相位的数据。

3.根据权利要求1所述的一种多探头天线测试系统的探头校准方法，其特征在于，数据采集模块(7)在每一个步进位置采集2个极化的场强信息。

4.根据权利要求3所述的一种多探头天线测试系统的探头校准方法，其特征在于，校准系数分析模块(7)根据场强信息计算出每一个探头每一个极化的校准系数。

5.根据权利要求1所述的一种多探头天线测试系统的探头校准方法，其特征在于，所述水平转台(5)步进X⁰的取值范围包括：0⁰<X<900。

6.根据权利要求1所述的一种校准多探头天线测试系统的探头校准方法，其特征在于，所述多探头天线测试系统还包括支架(4)，支架(4)固设于水平转台(5)和角度转台(6)上，所述支架(4)支撑所述校准天线(3)，使所述校准天线(3)位于所述复数个探头(1)所围成的环(2)的中心位置。

7.根据权利要求1所述的一种多探头天线测试系统的探头校准方法，其特征在于，所述水平转台(5)可在水平方向上转动360度，在水平转台(5)转动时使校准天线(3)的中心与所述复数个探头(1)所围成的环(2)的中心保持重合。

8.根据权利要求6所述的一种多探头天线测试系统的探头校准方法，其特征在于，所述角度转台(5)与支架(4)的接触面包括具有凹面弧形的表面，当垂直方向上校准天线(3)的中心与所述复数个探头(1)所围成的环(2)的中心不重合或有一定的偏差时，角度转台(6)旋转相应的角度使校准天线(3)的中心与所述复数个探头(1)所围成的环(2)的中心重合。

9.一种多探头天线测试系统的探头校准系统，其特征在于，包括：转台控制模块(9)、复数个探头、校准天线(3)、水平转台(5)、角度转台(6)、数据采集模块(7)和校准系数分析模块(8)；所述复数个探头(1)呈环状排列，所述转台控制模块(9)与水平转台(5)和角度转台(6)连接，所述数据采集模块(7)与校准天线(3)、复数个探头(1)和校准系数分析模块(8)连接，校准天线(3)固定于水平转台(5)和角度转台(6)上，校准天线(3)位于所述复数个探头(1)所围成的环(2)的中心位置。