[发明专利]同分异构体质谱获得方法和同分异构体鉴定方法有效

专利信息
申请号: 201810697710.2 申请日: 2018-06-29
公开(公告)号: CN108918645B 公开(公告)日: 2021-10-15
发明(设计)人: 孙露露;侯志辉;陈伟章;其他发明人请求不公开姓名 申请(专利权)人: 广州禾信仪器股份有限公司
主分类号: G01N27/62 分类号: G01N27/62
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 陈金普
地址: 510530 广东省广州市广州高新*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明涉及一种基于PCB分压离子阱的同分异构体质谱获得方法、同分异构体鉴定方法、PCB分压离子阱质谱仪、计算机设备和存储介质,其中质谱获得方法包括以下步骤:将待检测样品通过一系列装置电离成离子后引入离子阱;调节离子阱射频分压比,在即正扫时引入负多级场,在反扫时引入正多级场,将离子都逐出至离子检测装置检测离子,在正扫时,生成第一二级质谱;在反扫时,生成第二二级质谱。该方法测定简单且准确。
搜索关键词: 同分异构 体质 获得 方法 鉴定
【主权项】:
1.一种基于PCB离子肼的同分异构体质谱获得方法,用于PCB分压离子肼质谱仪,其特征在于,包括以下步骤:依次通过所述PCB分压离子肼质谱仪的有膜进样装置、真空紫外光单光子电离源和聚焦电极组将待检测样品电离后引入PCB分压离子肼,其中所述待检测样品中包括至少两种同分异构体物质;在所述PCB分压离子肼质谱仪为正离子扫描模式时,调节所述PCB分压离子肼的射频电压分压比引入负多级场,将所述PCB分压离子肼中的待检测样品离子逐出至PCB分压离子肼质谱仪的离子检测装置,所述离子检测装置检测所述待检测样品离子得到第一二级质谱;在所述PCB分压离子肼质谱仪为负离子扫描模式时,调节所述PCB分压离子肼的射频电压分压比引入正多级场,将所述PCB分压离子肼中的所述待检测样品离子逐出至所述离子检测装置,所述离子检测装置检测所述待检测样品离子得到第二二级质谱。
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