[发明专利]同分异构体质谱获得方法和同分异构体鉴定方法

权利要求书

1.一种基于PCB分压离子阱质谱仪的同分异构体鉴定方法，其特征在于，包括以下步骤：

依次通过所述PCB分压离子阱质谱仪的有膜进样装置、真空紫外光单光子电离源和聚焦电极组将待检测样品电离后引入PCB分压离子阱，其中所述待检测样品中包括至少两种同分异构体物质;

在所述PCB分压离子阱质谱仪为正离子扫描模式时，调节所述PCB分压离子阱的射频电压分压比引入负多级场，将所述PCB分压离子阱中的待检测样品离子逐出至所述PCB分压离子阱质谱仪的离子检测装置，所述离子检测装置检测所述待检测样品离子得到第一二级质谱；

在所述PCB分压离子阱质谱仪为负离子扫描模式时，调节所述PCB分压离子阱的射频电压分压比引入正多级场，将所述PCB分压离子阱中的所述待检测样品离子逐出至所述离子检测装置，所述离子检测装置检测所述待检测样品离子得到第二二级质谱；

分析所述第一二级质谱中各同分异构体物质的分子离子峰，得到各所述同分异构体物质的第一测量质量数；分析所述第二二级质谱中各同分异构体物质的分子离子峰，得到各所述同分异构体物质的第二测量质量数；

对于每一个同分异构体物质：

计算所述第一测量质量数和实际质量数的差值，得到第一质量数漂移值，并计算所述第二测量质量数和所述实际质量数的差值，得到第二质量数漂移值；计算所述第一质量数漂移值和所述第二质量数漂移值的差值，得到质量数漂移差值；

根据每一个同分异构体物质的所述质量数漂移差值，确定所述同分异构体物质的类型。

2.根据权利要求1所述的同分异构体鉴定方法，其特征在于，所述根据每一个同分异构体物质的所述质量数漂移差值，确定所述同分异构体物质的类型的步骤包括：

根据每一个同分异构体物质的所述质量数漂移差值确定每一个所述同分异构体物质的横截面积，其中所述质量数漂移差值与所述同分异构体物质的横截面积成正比；

根据每一个所述同分异构体物质的横截面积确定所述同分异构体物质的类型。

3.一种PCB分压离子阱质谱仪，其特征在于，所述PCB分压离子阱质谱仪用于执行步骤：

依次通过所述PCB分压离子阱质谱仪的有膜进样装置、真空紫外光单光子电离源和聚焦电极组将待检测样品电离后引入PCB分压离子阱，其中所述待检测样品中包括至少两种同分异构体物质;

在所述PCB分压离子阱质谱仪为正离子扫描模式时，调节所述PCB分压离子阱的射频电压分压比引入负多级场，将所述PCB分压离子阱中的待检测样品离子逐出至所述PCB分压离子阱质谱仪的离子检测装置，所述离子检测装置检测所述待检测样品离子得到第一二级质谱；

在所述PCB分压离子阱质谱仪为负离子扫描模式时，调节所述PCB分压离子阱的射频电压分压比引入正多级场，将所述PCB分压离子阱中的所述待检测样品离子逐出至所述离子检测装置，所述离子检测装置检测所述待检测样品离子得到第二二级质谱；

所述PCB分压离子阱质谱仪包括所述PCB分压离子阱；

所述PCB分压离子阱包括：四组电极和设置于四组电极上的射频分压调节装置，其中两组所述电极沿着离子出射方向对称设置，剩下两组所述电极垂直于所述离子出射方向对称设置，所述四组电极呈四方形分布；每组所述电极都包括边电极和中间电极；

其中，垂直于所述离子出射方向设置的两组电极上设置有第一射频分压调整装置，所述第一射频分压调压装置包括第一电容、第二电容、第一电阻和第一射频电源，所述第一电容的一端连接所述两组电极的边电极，且通过所述第二电容接地，并通过所述第一电阻连接所述第一射频电源的一端；所述第一电容的另一端连接所述第一射频电源的一端，所述第一射频电源的另一端分别连接所述两组电极的中间电极；

沿着所述离子出射方向设置的两组电极中其中一组电极上设置有第二射频分压调整装置，所述第二射频分压调压装置包括第三电容、第四电容、第二电阻和第二射频电源，所述第三电容的一端连接所述一组电极的边电极，且通过所述第四电容接地，并通过所述第二电阻连接所述第二射频电源的一端；所述第三电容的另一端连接所述第二射频电源的一端，所述第二射频电源的另一端连接所述一组电极的中间电极；

沿着所述离子出射方向设置的两组电极中另一组电极上设置有第三射频分压调整装置，所述第三射频分压调压装置包括第五电容、第六电容、第三电阻和第三射频电源，所述第五电容的一端连接所述一组电极的边电极，且通过所述第六电容接地，并通过所述第三电阻连接所述第三射频电源的一端；所述第五电容的另一端连接所述第三射频电源的一端，所述第三射频电源的另一端连接所述另一组电极的中间电极。