[发明专利]同分异构体质谱获得方法和同分异构体鉴定方法有效

专利信息
申请号: 201810697710.2 申请日: 2018-06-29
公开(公告)号: CN108918645B 公开(公告)日: 2021-10-15
发明(设计)人: 孙露露;侯志辉;陈伟章;其他发明人请求不公开姓名 申请(专利权)人: 广州禾信仪器股份有限公司
主分类号: G01N27/62 分类号: G01N27/62
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 陈金普
地址: 510530 广东省广州市广州高新*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 同分异构 体质 获得 方法 鉴定
【说明书】:

发明涉及一种基于PCB分压离子阱的同分异构体质谱获得方法、同分异构体鉴定方法、PCB分压离子阱质谱仪、计算机设备和存储介质,其中质谱获得方法包括以下步骤:将待检测样品通过一系列装置电离成离子后引入离子阱;调节离子阱射频分压比,在即正扫时引入负多级场,在反扫时引入正多级场,将离子都逐出至离子检测装置检测离子,在正扫时,生成第一二级质谱;在反扫时,生成第二二级质谱。该方法测定简单且准确。

技术领域

本发明涉及质谱测量与应用技术领域,特别是涉及一种基于PCB分压离子阱的同分异构体质谱获得方法、同分异构体鉴定方法、PCB分压离子阱质谱仪、计算机设备和存储介质。

背景技术

同分异构体是分子式和质量数相同,物理及化学性质互不相同的一类化合物,在化学领域中同分异构体的鉴定非常重要。目前,常用的同分异构体的鉴别方法包括:色谱法、光谱法以及质谱法。色谱法前处理复杂、操作繁琐,而光谱法难以用在复杂化合物或混合物的同分异构体的鉴别。质谱法则是应用最广的方法,质谱法通常是采用常规质谱对离子碰撞诱导解离,即通过质谱的碎片分析功能来鉴别同分异构体,但对于结构稳定、碎片离子相同的同分异构体无法鉴定。

数字线性离子阱技术是在传统离子阱技术的基础上发展起来的,离子阱质谱仪凭借其结构简单、尺寸小巧、灵敏度高、真空要求相对较低以及能独立实现多级质谱等特点,成为质谱领域研究和应用的热点。谱分析印刷线路板(Printed-Circuit-Board,PCB)分压离子阱是一种新型质量分析器,可以用在对不同的分析环境中,如环境应急检测、快速寻找污染源、原油监测及恶劣野外环境探测等。因此,提出一个基于PCB分压离子阱的同分异构体质谱获得方法就显得尤为重要。

发明内容

基于此,有必要针对目前常规质谱仪无法鉴别结构稳定、碎片离子相同的同分异构体的问题,提供一种基于PCB分压离子阱的同分异构体质谱获得方法、同分异构体鉴定方法、PCB分压离子阱质谱仪、计算机设备和存储介质。

一种基于PCB分压离子阱的同分异构体质谱获得方法,包括以下步骤:

依次通过所述PCB分压离子阱质谱仪的有膜进样装置、真空紫外光单光子电离源和聚焦电极组将待检测样品电离后引入PCB分压离子阱,其中所述待检测样品中包括至少两种同分异构体物质;

在所述PCB分压离子阱质谱仪为正离子扫描模式时,调节所述PCB分压离子阱的射频电压分压比引入负多级场,将所述PCB分压离子阱中的待检测样品离子逐出至PCB分压离子阱质谱仪的离子检测装置,所述离子检测装置检测所述待检测样品离子得到第一二级质谱;

在所述PCB分压离子阱质谱仪为负离子扫描模式时,调节所述PCB分压离子阱的射频电压分压比引入正多级场,将所述PCB分压离子阱中的所述待检测样品离子逐出至所述离子检测装置,所述离子检测装置检测所述待检测样品离子得到第二二级质谱。

上述的基于PCB分压离子阱的同分异构体质谱获得方法,首先将待检测样品(待检测样品至少包括两种同分异构体物质)经一系列装置电离后引入PCB分压离子阱中,调节PCB分压离子阱的射频分压比,在正离子模式扫描和负离子模式扫描时,分别引入负多级场和正多级场,将PCB分压离子阱中的待检测样品离子逐出至离子检测装置,离子检测装置检测待检测样子离子生成第一二级质谱和第二二级质谱;得到质谱的结果更加简单且准确。

一种利用所述的基于PCB分压离子阱的同分异构体质谱获得方法得到的质谱的同分异构体鉴定方法,包括以下步骤:

分析所述第一二级质谱中各同分异构体物质的分子离子峰,得到各所述同分异构体物质的第一测量质量数;分析所述第二二级质谱中各同分异构体物质的分子离子峰,得到各所述同分异构体物质的第二测量质量数;

对于每一个同分异构体物质:

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