[发明专利]一种用于多个指针式仪表识别的定位方法在审

专利信息
申请号: 201810695727.4 申请日: 2018-06-27
公开(公告)号: CN109034151A 公开(公告)日: 2018-12-18
发明(设计)人: 彭刚;杜兵 申请(专利权)人: 华中科技大学
主分类号: G06K9/32 分类号: G06K9/32;G06K9/42;G06K9/62
代理公司: 华中科技大学专利中心 42201 代理人: 李智;曹葆青
地址: 430074 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种用于多个指针式仪表识别的定位方法,包括将降维后的模板图像的LARK特征图作为滑动窗口在多个尺度下的输入图像的LARK特征图中滑动,得到不同尺度下的余弦相似度图;将不同尺度下的余弦相似度图变换为多个RM相似度图,构成每个尺度下的输入图像的相似图,在每个尺度下进行仪表检测,若相似图中的最大RM相似度大于阈值,则将RM相似度最高的前M%在输入图像中对应的区域作为初步的指针式仪表候选区域,排除多余重叠区域得到最终的指针式仪表候选区域;提取最终的指针式仪表候选区域图像和模板图像的特征点进行匹配,得到输入图像中指针式仪表区域的精确定位。本发明适应性好,实时性强,指针式仪表定位准确率高。
搜索关键词: 指针式仪表 输入图像 尺度 候选区域 相似度 余弦相似度 模板图像 特征图 定位准确率 滑动窗口 仪表检测 重叠区域 实时性 特征点 滑动 降维 匹配 图像
【主权项】:
1.一种用于多个指针式仪表识别的定位方法,其特征在于,包括:(1)获取输入图像的LARK特征图和模板图像的LARK特征图,对降维后的输入图像的LARK特征图进行缩放,得到多个尺度下的输入图像的LARK特征图;(2)将降维后的模板图像的LARK特征图作为滑动窗口,利用滑动窗口在多个尺度下的输入图像的LARK特征图中滑动,每次滑动后计算滑动窗口与滑动窗口内的输入图像的LARK特征图的余弦相似度,多次滑动后得到每个尺度下的输入图像的LARK特征图的余弦相似度;(3)将多个余弦相似度变换为多个RM相似度,利用多个RM相似度构成每个尺度下的输入图像的相似图,对每个尺度下的输入图像的相似图进行仪表检测,若相似图中的最大RM相似度大于阈值,则选择相似图中RM相似度最高的前M%在输入图像中对应的区域作为初步的指针式仪表候选区域,然后使用非极大值抑制算法排除掉初步的指针式仪表候选区域中的多余重叠区域,得到最终的指针式仪表候选区域;(4)提取最终的指针式仪表候选区域图像和模板图像的特征点,进行匹配,得到输入图像中指针式仪表区域的精确定位。
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