[发明专利]像素暗态漏光的检测方法及检测装置有效
| 申请号： | 201810687178.6 | 申请日： | 2018-06-28 |
| 公开（公告）号： | CN108803097B | 公开（公告）日： | 2021-03-26 |
| 发明（设计）人： | 林旭林;陈黎暄 | 申请（专利权）人： | TCL华星光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13 |
| 代理公司： | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人： | 郝传鑫;熊永强 |
| 地址： | 518132 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种像素暗态漏光的检测方法，用于检测液晶显示器的显示画面的暗态漏光分布，包括：拍摄暗态条件下液晶显示器的显示画面的照片；提取所述照片中的像素的不同位置的区别元素，其中，所述区别元素包括以下一种或多种：漏光亮度、漏光颜色以及漏光边缘特征；根据所述区别元素将所述像素分为数个漏光区域与非漏光区域。本发明解决了无法确定暗态漏光在一个像素内的空间分布的技术问题。 | ||
| 搜索关键词： | 像素 漏光 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种像素暗态漏光的检测方法，用于检测液晶显示器的显示画面的暗态漏光分布，其特征在于，包括：拍摄暗态条件下液晶显示器的显示画面的照片；提取所述照片中的像素的不同位置的区别元素，其中，所述区别元素包括以下一种或多种：漏光亮度、漏光颜色以及漏光边缘特征；根据所述区别元素将所述像素分为数个漏光区域与非漏光区域。
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