[发明专利]像素暗态漏光的检测方法及检测装置

说明书

一种像素暗态漏光的检测方法，用于检测液晶显示器的显示画面的暗态漏光分布，包括：拍摄暗态条件下液晶显示器的显示画面的照片；提取所述照片中的像素的不同位置的区别元素，其中，所述区别元素包括以下一种或多种：漏光亮度、漏光颜色以及漏光边缘特征；根据所述区别元素将所述像素分为数个漏光区域与非漏光区域。本发明解决了无法确定暗态漏光在一个像素内的空间分布的技术问题。

技术领域

本发明涉及显示技术领域，特别涉及一种像素暗态漏光的检测方法及检测装置。

背景技术

TFT-LCD(薄膜晶体管-液晶显示器)通过电压控制液晶分子的偏转状态来调控背光光源的透光量，从而显示具有特定颜色和亮度分布的画面。对比度是衡量TFT-LCD显示质量的重要参数。对比度通常定义为亮态画面(红、绿、蓝子像素均为最高灰阶)与暗态画面(红、绿、蓝子像素均为零灰阶)的亮度比值。对比度越高，黑色画面越纯粹，给观看者的感受越好。

限制TFT-LCD对比度提升的主要因素是暗态漏光。业界通常采用频谱仪分别测量亮态画面和暗态画面的亮度来获取TFT-LCD的对比度。但是这种仪器的测量范围通常覆盖几十个像素，无法确定暗态漏光来自该像素的哪一个区域。因此，目前还没有确定TFT-LCD暗态漏光在一个像素内的空间分布的方法。

发明内容

本发明的目的在于提供一种像素暗态漏光分布的检测方法及检测装置，以解决无法确定暗态漏光在一个像素内的空间分布的技术问题。

本发明提供一种像素暗态漏光的检测方法，用于检测液晶显示器的显示画面的暗态漏光分布，包括：

拍摄暗态条件下液晶显示器的显示画面的照片；

提取所述照片中的像素的不同位置的区别元素，其中，所述区别元素包括以下一种或多种：漏光亮度、漏光颜色以及漏光边缘特征；

根据所述区别元素将所述像素分为数个漏光区域与非漏光区域。

其中，所述根据所述区别元素将所述像素分为数个漏光区域与非漏光区域的步骤之后还包括：获取每个所述漏光区域的漏光贡献比率和相对强度。

其中，所述获取每个所述漏光区域的漏光贡献比率和相对强度，包括：

读取黑白照片中每个所述漏光区域的第一黑白灰阶数值；

根据所述第一黑白灰阶数值获取每个所述漏光区域的漏光贡献比率和相对强度。

其中，所述获取每个所述漏光区域的漏光贡献比率和相对强度，包括：

读取彩色照片中每个所述漏光区域的红、绿、蓝三原色的灰阶数值；

将所述红、绿、蓝三原色的灰阶数值转换成第二黑白灰阶数值；

根据所述第二黑白灰阶数值获取每个所述漏光区域的漏光贡献比率和相对强度。

本发明提供一种像素暗态漏光的检测装置，用于检测液晶显示器的显示画面的暗态漏光分布，包括：光学显微照相机与数字图像处理器，所述光学显微照相机用于拍摄暗态条件下液晶显示器的显示画面的照片，所述数字图像处理器用于提取所述照片中的像素的不同位置的区别元素，以及用于根据所述区别元素将所述像素分为数个漏光区域与非漏光区域，其中，所述区别元素包括以下一种或多种：漏光亮度、漏光颜色以及漏光边缘特征。

其中，所述数字图像处理器还用于获取每个所述漏光区域的漏光贡献比率和相对强度。

其中，所述光学显微照相机的Gamma值为预设值。

其中，所述光学显微照相机的放大倍数、光源强度和曝光时间，可使光学显微照相机的视野中至少完整地显示一个所述像素。