[发明专利]一种具有高稳定性和低静态功耗的SRAM存储单元电路有效

专利信息
申请号: 201810597670.4 申请日: 2018-06-12
公开(公告)号: CN108922572B 公开(公告)日: 2021-10-26
发明(设计)人: 贺雅娟;张九柏;吴晓清;张波 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: G11C11/412 分类号: G11C11/412;G11C11/419
代理公司: 成都点睛专利代理事务所(普通合伙) 51232 代理人: 葛启函
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 一种具有高稳定性和低静态功耗的SRAM存储单元电路,属于集成电路技术领域。本发明提出了一种10T结构的SRAM存储单元电路,结合基于该电路的读写方式,能够使得本发明具有高的读噪声容限和写裕度;由于本发明中只有一条位线,且本发明的结构中第一NMOS管和第三NMOS管堆叠成一个下拉通路,第二PMOS管和第四PMOS管堆叠成一个上拉通路,减小了本发明中的漏电流,从而减小了本发明的静态功耗;同时本发明能够解决半选问题,在用于位交错阵列结构时能够改善存储器软错误率问题。
搜索关键词: 一种 具有 稳定性 静态 功耗 sram 存储 单元 电路
【主权项】:
1.一种具有高稳定性和低静态功耗的SRAM存储单元电路,其特征在于,包括第一NMOS管(MN1)、第二NMOS管(MN2)、第三NMOS管(MN3)、第四NMOS管(MN4)、第五NMOS管(MN5)、第六NMOS管(MN6)、第一PMOS管(MP1)、第二PMOS管(MP2)、第三PMOS管(MP3)和第四PMOS管(MP4),第三NMOS管(MN3)的栅极连接第三PMOS管(MP3)的栅极、第四PMOS管(MP4)的源极、第二PMOS管(MP2)和第四NMOS管(MN4)的漏极,其漏极连接第二PMOS管(MP2)、第二NMOS管(MN2)和第四NMOS管(MN4)的栅极以及第一PMOS管(MP1)和第三PMOS管(MP3)的漏极,其源极连接第一NMOS管(MN1)的漏极;第四PMOS管(MP4)的栅极连接第一写字线(WWLA),其漏极连接第二NMOS管(MN2)的漏极、第六NMOS管(MN6)的源极、第一NMOS管(MN1)和第一PMOS管(MP1)的栅极;第五NMOS管(MN5)的栅极连接第六NMOS管(MN6)的栅极并连接字线(WL),其漏极连接第四NMOS管(MN4)的源极,其源极连接第二写字线(WWLB);第二NMOS管(MN2)的源极连接控制信号线(VVSS),第六NMOS管(MN6)的漏极连接位线(BL);第一PMOS管(MP1)、第二PMOS管(MP2)和第三PMOS管(MP3)的源极连接电源电压(VDD),第一NMOS管(MN1)的源极接地(GND);所有NMOS管的体端均接地(GND),所有PMOS管的体端均连接电源电压(VDD)。
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