[发明专利]程序语法检查的方法及芯片验证的方法有效
申请号: | 201810589358.0 | 申请日: | 2018-06-08 |
公开(公告)号: | CN108763815B | 公开(公告)日: | 2022-12-02 |
发明(设计)人: | 曹云 | 申请(专利权)人: | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
主分类号: | G06F30/398 | 分类号: | G06F30/398 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 屈蘅 |
地址: | 201203 上海市浦东*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明提供了一种程序语法检查的方法,所述程序语法检查的方法包括判断同一个变量是否出现在不同的开关内,若同一个变量出现在不同的开关内,报错提醒,若同一个变量没有出现在不同的开关内,执行步骤将所有所述开关分为第一类开关、第二类开关及第三类开关,所述第一类开关为不可拆分开关,所述第二类开关为功能可选检查开关,所述第三类开关为功能增加检查开关,执行步骤验证所述程序中第一类开关及所述第二类开关的组合中的语法是否正确,本发明将所述程序的各开关进行了分类,通过压缩开关选项的组合数,在确保程序语法检查正确性的基础上,达到了提高验证效率,节省开发周期的预设目的。 | ||
搜索关键词: | 程序 语法 检查 方法 芯片 验证 | ||
【主权项】:
1.一种程序语法检查的方法,其特征在于,所述程序语法检查的方法包括:S1:提供程序,所述程序包括若干个功能模块,每个所述功能模块通过开关隔开;S2:判断同一个变量是否出现在不同的开关内,若同一个变量出现在不同的开关内,报错提醒,若同一个变量没有出现在不同的开关内,执行步骤S3;S3:将所有所述开关分为第一类开关、第二类开关及第三类开关,所述第一类开关为不可拆分开关,所述第二类开关为功能可选检查开关,所述第三类开关为功能增加检查开关,执行步骤S4;S4:对所述程序中第一类开关、第二类开关及第三类开关的组合进行程序语法检查,所述第一类开关中每个开关的开启状态、闭合状态或变量赋值与其余开关的所有可能的组合均需要检查,所述第二类开关需要检查开启状态和闭合状态,并且,所述第二类开关中的变量赋值分配到所述第一类开关的组合中检查,所述第三类开关需要检查开启状态。
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