[发明专利]高速信号连接器有效接触行程测试系统及测试方法有效

专利信息
申请号: 201810588717.0 申请日: 2018-06-08
公开(公告)号: CN109029229B 公开(公告)日: 2020-07-28
发明(设计)人: 刘江锋;刘少正;廖平;罗素芹 申请(专利权)人: 烽火通信科技股份有限公司
主分类号: G01B7/02 分类号: G01B7/02;G01R31/00
代理公司: 武汉智权专利代理事务所(特殊普通合伙) 42225 代理人: 王维
地址: 430000 湖北省武*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种高速信号连接器有效接触行程测试系统及测试方法,涉及连接器接触行程测试领域,包括:插拔力试验机,其用于将所述公信号连接器与母信号连接器进行配接,并记录配接时产生的位移和插拔力;微欧表,其用于所述公信号连接器与母信号连接器配接时的接触电阻测试。工控机,其用于接收所述插拔力试验机发送的位移和插拔力以及微欧表发送的接触电阻的阻值,并根据所述位移、插拔力和接触电阻的阻值,生成插拔力与位移的曲线以及接触电阻与位移的曲线。本发明能够直观准确的确定连接器有效接触行程。
搜索关键词: 高速 信号 连接器 有效 接触 行程 测试 系统 方法
【主权项】:
1.一种高速信号连接器有效接触行程测试系统,用于测试公信号连接器与母信号连接器配接时的有效接触行程,其特征在于,包括:插拔力试验机,其用于将所述公信号连接器与母信号连接器进行配接,并记录配接时产生的位移和插拔力;微欧表,其用于所述公信号连接器与母信号连接器配接时的接触电阻测试;以及工控机,其用于接收所述插拔力试验机发送的位移和插拔力以及微欧表发送的接触电阻的阻值,并根据所述位移、插拔力和接触电阻的阻值,生成插拔力与位移的曲线以及接触电阻与位移的曲线。
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